Zusammensetzungen

XRF und XRD für Elementar- und Phasenanalysen

ZusammensetzungenZwei häufig verwendete Techniken zur nicht-destruktiven Bestimmung der Zusammensetzung unbekannter Proben sind Röntgenfluoreszenz (XRF) und Röntgenbeugung (XRD). Die Röntgenfluoreszenz liefert Informationen über die Zusammensetzung der Elemente Bor (B) bis Uran (U) von parts-per-million Konzentrationen bis hin zu Prozentangaben (%). Mittels Fundamentalparameteralgorithmen (FP) kann XRF quantitative Analysen auch ohne Referenzstandards erbringen. Die Röntgenbeugung ermöglicht Identifikationen von Phasenzusammensetzungen und berücksichtigt die Abgrenzung zwischen hauptsächlich, geringfügig oder spurenhaft vorhandenen Verbindungen in einer Probe. XRD-Analysen schließen den Mineralstoffnamen einer Substanz, ihre chemische Formel, das Kristallsystem und die Nummer des Bezugsmusters der internationalen Datenbank ICDD mit ein. Quantitative Informationen können zudem auch mittels Rietveld-Analysen und ohne Standards erhalten werden.

Systems

MiniFlex   MiniFlex
Neues, kompaktes und universal einsetzbares XRD-System der 6. Generation für Phasenidentifizierung und -quantifizierung
  SmartLab   SmartLab
Hochentwickeltes und hochauflösendes XRD-System mit Guidance Expertenbetriebssoftware
  Ultima IV   Ultima IV
Hochleistungsfähiges Mehrzweck-XRD-System für breitgefächerte Anwendungen von Forschung & Entwicklung bis zur Qualitätskontrolle
RAPID II   RAPID II
XRD-System mit gewölbter Imaging-Plate (IP) und mit besonders großem Blendendurchmesser. Wahlweise mit Drehanode oder versiegelter Röhre als Röntgenquelle
  Supermini   Supermini
Kompaktes, sequentielles WDXRF-Spektrometer für Elementaranalysen von Fluor (F) bis Uran (U) in Feststoffen, Flüssigkeiten und Pulvern
  ZSX Primus   ZSX Primus
Leistungsfähiges, sequentielles WDXRF-Spektrometer mit Mapping-Fähigkeit und herausragender Leistung für leichte Elemente
ZSX Primus II   ZSX Primus II
Leistungsfähiges, sequentielles WDXRF-Spektrometer mit Mapping-Fähigkeit und herausragender Leistung für leichte Elemente
  Simultix 15   Simultix 15
Mehrkanaliges, simultanes WDXRF-Spektrometer mit hoher Durchsatzleistung für Elementaranalysen von Beryllium (Be) bis Uran (U)
  310   MFM310
System zur Prozessmessung mittels XRR, XRF, und XRD für beschichtete Halbleiterscheiben bis zu 300 mm