Materialwissenschaften

XRF und XRD für Elementar- und Phasenanalysen

Regierungen und verschiedene Industriezweige investieren jährlich gemeinsam Milliarden von Dollar in Forschung und Entwicklung moderner Werkstoffe. Hierbei werden die Eigenschaften und Anwendungen unterschiedlicher Materialien undersucht. Dazu zählen Metalle, Keramiken und Kunststoffe die Verwendung sowohl in der Weltraumforschung als auch in Verteidigungstechnologien oder Konsumartikeln finden. Die Röntgenbeugung (XRD) wird als primäres Analyseverfahren zur Untersuchung solcher Hochleistungswerkstoffe verwendet und schließt folgende Untersuchungsverfahren mit ein: Identifizierung und Quanitfizierung von Phasen, Bestimmung des Kristallinitätsgrades in Phasen, kristallographische Strukturbestimmung, Kristallorientierung und -beschaffenheit, Oberflächenspannung, Eigenschaften von Dünnschichten, Porengrößen, etc. Der Einfluss unterschiedlicher Umgebungsbedingungen auf diese Eigenschaften kann zudem routinemäßig mittels XRD-Techniken untersucht werden. Probenanalysen können mit Pulvern oder Feststoffen verschiedener Formen und Größen sowie von Lösungen und Halbleiterscheiben durchgeführt werden. Die Technologien und die Erfahrung von Rigaku liefern Ihnen eine Reihe von Expertenlösungen für verschiedenste Anwendungsgebiete der Materialwissenschaften.

Systems: 
  MiniFlex
Neuartiges, kompaktes und universal einsetzbares XRD-System der 5. Generation für Phasenidentifizierung und –quantifizierung
    Supermini200
Kompaktes, sequentielles WDXRF-Spektrometer für Elementaranalysen von Fluor (F) bis Uran (U) in Feststoffen, Flüssigkeiten und Pulvern
    NEX CG
Hochleistungsfähiges EDXRF-Elementaranalysegerät mit kartesischen Geometrien für Messungen von Na bis hin zu U in Feststoffen, Flüssigkeiten, Pulvern und Dünnschichten
  Ultima IV
Hochleistungsfähiges Mehrzweck-XRD-System für breitgefächerte Anwendungen von Forschung & Entwicklung bis zur Qualitätskontrolle
    SmartLab
Hochentwickeltes und hochauflösendes XRD-System mit Guidance Expertenbetriebssoftware
    RAPID II
XRD-System mit gewölbter Imaging-Plate (IP) und mit besonders großem Blendendurchmesser. Wahlweise mit Drehanode oder versiegelter Röhre als Röntgenquelle