Nanotechnologie

XRD, XRR und SAXS für Charakterisierungen im Nanomaßstab

Die Nanotechnologie erstreckt sich üblicherweise interdisziplinär über viele wissenschaftliche Bereiche wie Biologie, Chemie, Physik und Ingenieurswesen. Ein bestimmender Faktor in der Nanotechnologie ist die Bestimmung lateraler Strukturdimensionen. Mit Materialien oder Materialbestandteilen in Dimensionen von einem Milliardstel (10-9) Meter, ist die Forschung und Entwicklung der Nanotechnologie auf präzise Messungen der atomaren und molekularen Abstände innerhalb von Strukturen angewiesen, mit Anwendungen von Halbleitereinrichtungen bis über Nano-Pulvern. Da die Dimensionen von Röntgenwellenlängen im selben Größenbereich wie Nanostrukturen liegen, sind Röntgenbeugung (XRD) und verwandte Techniken die primären Analyseinstrumente für Wissenschaftler in der Nanotechnologie. Die Röntgenreflektometrie kann zur Bestimmung der Schichtdicke, Rauheit und Dichte verwendet werden. Die hochauflösende Röntgenbeugung kann zur Bestimmung der Schichtdicke, Rauheit, chemischen Zusammensetzung, Gitterabstandsmessungen, Relaxationsmessungen und anderer Messungen herangezogen werden. Die diffuse Röntgenstreuung wird zur Bestimmung lateraler und transversaler Wechselbeziehungen, Verzerrungen, Dichte und Porosität verwendet. Die Röntgenbeugung unter streifendem Einfall auf gleicher Ebene wird zur Untersuchung lateraler Wechselbeziehungen der dünnsten organischen und anorganischen Schichten sowie zur Tiefenprofilierung genutzt. Die Kleinwinkel-Röntgenstreuung kann die Größe, Form, Verteilung, Orientierung und Zuordnung von Nanopartikeln in Feststoffen oder Lösungen ermitteln. Die Technologien und das Expertenwissen von Rigaku liefern dabei gemeinsam eine Reihe von Instrumenten für Anwendungen in der Nanotechnologie.

Systems: 
  MiniFlex
Neuartiges, kompaktes und universal einsetzbares XRD-System der 5. Generation für Phasenidentifizierung und –quantifizierung
    RAPID II
XRD-System mit gewölbter Imaging-Plate (IP) und mit besonders großem Blendendurchmesser. Wahlweise mit Drehanode oder versiegelter Röhre als Röntgenquelle
    Ultima IV
Hochleistungsfähiges Mehrzweck-XRD-System für breitgefächerte Anwendungen von Forschung & Entwicklung bis zur Qualitätskontrolle
  TTRAX III
Weltweit leistungsfähigstes θ/θ hochauflösendes Räntgendiffraktometer mit Diffraktionsarm auf gleicher Ebene
    S-MAX3000
Kleinwinkelröntgenstreuungs-System (SAXS) mit Lochkamera
    SmartLab
Fortschrittliches , hochmodernes und hochauflösendes XRD-System mit Guidance Expertensystemsoftware