Mapping eines kleinen Bereichs einer Bruchstelle auf einem TiN-Material

Die Fähigkeit, XRD-Scans eines sehr kleinen Probenbereiches ausführen zu können ist ein sehr hilfreiches Hilfsmittel für eine Reihe unterschiedlicher Anwendungen.

Die zwei nachfolgenden Abbildungen zeigen eine dieser Analysen der Bruchstelle auf einem TiN-Draht, der mittels Vorrichtung für kleine Bereiche auf dem Ultima IV Diffraktometer vermessen wurde. Um die Veränderungen der Materialeigenschaften entlang und senkrecht zum Verlauf der Bruchstelle untersuchen zu können, kann eine Reihe von Scans durchgeführt werden.

analysis of the fracture line of a TiN rod
investigate material property changes
Abbildung 1
Abbildung 2

Die nächsten zwei Abbildungen zeigen die XRD-Scans dieser Bereiche, die mittels Parallelstrahlgeometrie durchgeführt wurden und kontrollierte, sehr kleine (kleiner als 1x1 mm) Punktgrößen mithilfe speziell entwickelter Auswahlblenden schaffen. Die unterschiedlichen XRD-Beugungsmuster dieser zwei Untersuchungen wurden zur Analyse des Phasengehaltes, der Kristallitgröße (Korngrenzen), des Anteils amorpher Komponenten und der bevorzugten Anordnung des Materials entlang und senkrecht zur Bruchstelle miteinander verglichen.

analysis of the fracture line of a TiN rod
Abbildung 3



investigate material property changes
Abbildung 4