Analyse mit niedrigem Winkel am MiniFlex Benchtop-Diffraktometer

Materialien mit großer Einheitszelle und umfangreichem, offenem Raum wie Zeolith und meso-poröses Siliziumdioxid, werden aufgrund ihrer käfigartigen Kristallstrukturen oftmals als Filter, Sensoren, Katalysatoren, Drug-Delivery-Systeme, etc. verwendet. Die Röntgenbeugung ist eine Technik, die häufig zur Analyse solcher Strukturen angewendet wird.

Eine der Herausforderungen bei der Analyse von Strukturen mit großer Einheitszelle ist, dass diese häufig Beugungssignale mit niedrigem Winkel aufweisen, welche schwierig von den direkten Röntgenstrahlen der Röntgenquelle unterschieden werden können. Durch die Nutzung eines variablen Theta-Kompensations-Spaltes können direkte Strahlenablenkungen reduziert werden, um Beugungssignale mit niedrigem Winkel verarbeiten zu können.

Abbildung 1 zeigt die Beugungsmuster von MCM-41 meso-porösem Siliziumdioxid und Silberbehenat. Die Daten wurden am MiniFlex Benchtop System mit standardmäßiger Spaltkonfiguration gesammelt und zeigen eine ausgezeichnete Auftrennung von Signalen mit niedrigem Winkel. Dadurch können sowohl die Einheitszelle und die Gitterabstände dieser Materialen analysiert werden.


Abbildung 1: Beugungsmuster von MCM-41 meso-porösem Siliziumdioxid (links) und Silberbehenat (rechts)

2012 wird eine weitere Version zur MiniFlex Serie kompakter Geräte zur Röntgenstrukturanalyse hinzugefügt. Das neue MiniFlex fünfter Generation ist ein Universal-Röntgendiffraktometer, das qualitative und quantitative Analysen polykristalliner Materialien durchführen kann. Das MiniFlex ist ab jetzt in zwei Ausführungen lieferbar: Ausgestattet mit einer 600 Watt Röntgenröhre ist das MiniFlex 600 doppelt so leistungsfähig wie andere vergleichbare Geräte. Somit wird es möglich, schnellere Analysen und eine allgemein verbesserte Leistungsfähigkeit zu erzielen. Der MiniFlex 300 arbeitet mit einer 300 Watt Röntgenröhre und beansprucht so keinen externen Luftkühler. Jedes Modell wurde entwickelt, um maximale Flexibilität in einem möglichst kompakten Gerät zu gewährleisten. Read more...