Detektor für gekrümmte Imaging Plates

Messungen von Röntgenbeugung und -streuung verschiedener Materialien

RAPID II

Das RAPID II ist wahrscheinlich der flexibelste Röntgen-Flächendetektor in der Geschichte der Materialanalyse. Er wird seit über einem Jahrzehnt produziert und wurde dabei stets verbessert. Die Erfolgsgeschichte von RAPID II macht deutlich, wie wichtig die richtige Imaging Plate Technologie für die Darstellung von Beugungsmustern und diffusen Streumustern für unterschiedliche Materialien ist.

Entwickelt für Flexibilität

Geeignet für eine Vielzahl von Strahlungsquellen wird eine Imaging Plate mit außergewöhnlich großer aktiver Fläche mit der Flexibilität verschiedenster Röntgenquellen und optischer Systeme kombiniert. Der Imaging Plate Detektor vermag es dabei, schwache Messdaten mit konkreten Messdaten in Einklang zu bringen.
Geringe Betriebskosten
Ein vielfach bewährtes Design ganz ohne notwendige Kalibrierungen zeigt, dass das RAPID II wartungsfreundlich mit einem Minimum an Systemstillstandszeiten betrieben werden kann.
Die Ergebnisse überzeugen
Die Bandbreite von Experimenten, die mit dem RAPID II durchgeführt werden können, ist beinahe grenzenlos. Beispiele: Phasendetektierung von Pulverproben, Mikro-Beugungsstrukturen bis zu 10 Mikrometern, diffuse Streuung, Röntgenbeugung an Fasern, Strukturanalysen kleiner Moleküle, Spannungs- und Texturmessungen, etc.
DMAX RAPID XRD
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Features

  • Gekrümmte Imaging Plate mit großer 210° Blendenöffnung
  • Lange Expositionen möglich weil das Vorhandensein von Dunkelstromrauschen komplett vermieden wird
  • Eine große dynamische Bandbreite wird durch dualen Fotovervielfacher erreicht
  • Hohe Empfindlichkeit in Kombination mit niedrigem Ausleserauschen
  • Imaging Plate Detektor empfindlich genug für eine Vielzahl von Proben
  • Vielfältige Optionen für Röntgenquellen verfügbar, von geschlossenen Röhren bis hin zu Drehanodengeneratoren
  • Keine Detektorkalibrierung erforderlich
  • Wartungsarm—Alle Komponenten können vor Ort gewartet werden
  • Riesige experimentelle Flexibilität, von Pulvern bis hin zu Einkristallen

PDXL ist Rigakus Software-Komplettpaket für Pulverdiffraktionsanalysen. Mit seinem intuitiven Design nach dem Baukasten-Prinzip, seiner ausgefeilten Engine und der benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche begeistert PDXL seit seiner Veröffentlichung im Jahr 2007 erfahrene Nutzer und Einsteiger gleichermaßen.

PDXL bietet verschiedenste Analysehilfsmittel wie automatische Phasenidentifikation, quantitative Analyse, Kristallitgrößenanalyse, Verfeinerung von Kristallgitterkonstanten, Rietveld-Analyse, ab initio-Strukturbestimmung und mehr.

Fundamental Parameter-Methode

Die Peakform in einem Pulverdiffraktionsdiagramm würde bei Messung unter Idealbedingungen als Delta-Funktion erscheinen. In der Realität ändert sich die Form eines Peaks jedoch in Abhängigkeit einer Reihe von Messbedingungen: Wellenlängenverteilung der Strahlenquelle, optische Systeme, Blendenbedingungen, Kristallitgröße und –deformation, etc. Peakformen, die unter realen Messbedingungen ermittelt wurden, werden mit Hilfe empirischer Funktionen wie der „Split-Pseudo-Voigt“-Funktion oder der „Split-Peason VII“-Funktion, die über eine gute Übereinstimmung mit den ermittelten Peakformen verfügt, beschrieben. Die Fundamental Parameter-Methode (FP-Methode) ist eine Methode zur Berechnung der Form eines Peaks unter Einbezug der spezifischen Geräte- und Probenbedingungen bei der jeweiligen Messung.

Phasenidentifizierung mittels COD

Die Crystallography Open Database (COD) ist eine kostenlose, gemeinfreie Datenbank von Kristallstrukturen, die in Fachzeitschriften der International Union of Crystallography, Mineralogical Society of America und anderen publiziert worden sind. Neben PDF-2 (Datenbank des International Centre for Diffraction Data) kann PDXL auch COD als Datenbank für automatische Phasenidentifizierungen einbeziehen, womit die ohnehin umfangreichen Fähigkeiten von PDXL nochmals um die mehr als 150.000 Kristallstrukturen der COD-Bibliothek erweitert werden.

Assistent für ab initio-Kristallstrukturanalysen

In jüngster Zeit finden sich zahlreiche publizierte Beispiele für ab initio-Kristallstrukturanalysen mittels Pulverdiffraktionsdaten. Diese Entwicklung lässt sich vor allem auf erhebliche Verbesserungen in der Geschwindigkeit von PC-Verarbeitungsprozessen sowie der Effizienz von Algorithmen für Strukturbestimmungen zurückführen.

PDXL stellt seit jeher all die Funktionen bereit, die für ab initio-Kristallstrukturanalysen notwendig sind – ob Indexierung oder Strukturbestimmung und -verfeinerung mit der Rietveld-Methode. Mit der Funktion „Structure Analysis Wizard“ bietet PDXL nun zusätzlich Unterstützung und Anleitung für all die Benutzer, die sich vor das komplexe Verfahren der Strukturanalyse - insbesondere organischer Verbindungen – gestellt sehen. Der Assistent macht es auch Einsteigern möglich, erfolgreich analytische Ergebnisse zu erzielen.

Clustering-Funktion

Mit der PDXL Clustering-Funktion können Daten mehrerer Scanvorgänge auf Grundlage von Gemeinsamkeiten in den ermittelten Pulverdiffraktionsdiagrammen und Peakpositionen gruppiert und in einem leicht verständlichen Verzeichnisbaum angezeigt werden. Dies ist insbesondere hilfreich bei der Klassifizierung und Auswahl von Daten bei einer großen Anzahl von Scans.

  • Such-/Übereinstimmungsanalyse mit PDF-2 und Crystallography Open Database
  • Quantitative Analyse
  • Prozent Kristallinität
  • Kristallitgröße und -deformation
  • Zellenverfeinerung
  • Eigenspannung
  • Indexierung
  • Profilanpassung über das gesamte Modell
  • Ab initio Strukturbestimmung mit Assistent
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