XRR-Untersuchungen einer Zelluloseschicht

Zellulose-Dünnschichten, aufgetragen auf einem inorganischen Schichtträger, bieten eine ausgezeichnete Modelloberfläche für die Erforschung molekularer Ph&uauml;nomene die während verschiedener Prozesse mit Zellulose stattfinden. Beispiele hierfür sind Wechselwirkungen von Seifen, Waschmitteln, Parfüm und Weichspüler mit Zelluosefasern. Die Dicke, Rauhigkeit und Dichte dieser Filme sind wichtige Parameter bei der Untersuchung solch kontrollierter Prozesse.

Abbildung 1 zeigt Röntgenreflektivitäts (XRR)-Daten einer Zellulose-Dünnschichtprobe, aufgenommen am Ultima IV Mehrzweckdiffraktometersystem von Rigaku. Die Ergebnisse einer nichtlinearen Kleinste-Quadrate-Approximation einer Modellstruktur verglichen mit den experimentellen Daten wird in Abbildung 2 wiedergegeben. Der automatische Anpassungsprozess verbessert die Dicke-, Rauhigkeits- und Dichtewerte der Modellstruktur bis ein guter Kompromiss zu den experimentellen Daten erreicht wird. Abschließend können die Dicke-, Rauhigkeits- und Dichteparameter der Modellstruktur der jeweiligen Probe zugeordnet werden.

X-ray reflectivity (XRR) data
Abbildung 1

Results of a non-linear least squares fit of a model structure
Abbildung 2



Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more...