Elementarzellverfeinerung von Montmorillonit-Tonerde mittels Rietveld-Methode

Tonerden wie Montmorillonit sind wegen ihrer Schichtstrukturen besonders herausfordernd für Elementarzellen und Strukturverfeinerung. Durch Fehlordnungen in den Schichtstrukturen haben diese Materialien semikristallinen Charakter, was zu asymmetrischen Signalprofilen führt die schwierig auszuwerten sind.

Abbildung 1 zeigt ein Pulverbeugungsbild mit Matching Card der ICDD Phasendatenbank von Montmorillonit-Tonerde, die am Ultima IV Vielzweck-Diffraktometersystem analysiert wurde. Abbildung 2 zeigt die Ergebnisse der Rietveld Verfeinerung des Materials, errechnet mittels einem Modell aus IDCC Phasen.

Powder diffraction pattern
Abbildung 1

Powder diffraction pattern
Abbildung 2



Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more...