Untersuchungen eines Ni-Mn-Ga Materials mittels Röntgenbeugung unter streifendem Einfall (GIXRD) und Röntgenreflektometrie (XRR)

Ni-Mn-Ga Materialien gewinnen aufgrund ihrer großen Magnetfeld-induzierten Spanungen ein zunehmendes Interesse in potentiellen Anwendungsgebieten wie Sensoren und Bedienungselementen.

Ein solches Material wurde mit einer Kombination aus GIXRD-Analyse (Abbildung 1) und XRR-Analyse (Abbildung 2) am Ultima IV Mehrzweckdiffraktometersystem von Rigaku untersucht. Diese Art der Kombinationsanalyse bietet nicht nur Informationen über die Zusammensetzung und Textur dieser Ni-Mn-Ga Schicht. Darüberhinaus werden nützliche Informationen über die Schichtdicke, Dichte und Rauhigkeit erlangt, woduch die Eigenschaften dieser Materialien abgestimmt werden können.

GIXRD
Abbildung 1

XRR
Abbildung 2



Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more...