Strukturveränderungen einer Whistler-Legierung durch Hitzebehandlung

Die Röntgenbeugung von Dünnschichten kann zur Untersuchung der Oberflächen- und Grenzflächenbeschaffenheit, mitsamt Veränderungen der Kristallstruktureigenschaften unter Hitzeeinwirkung genutzt werden.

Mithilfe von Messungen in einer Ebene, erhältlich am Ultima IV Mehrzweckdiffraktometersystem von Rigaku, kann das temperaturabhängige Verhalten einer 100 nm Dünnschicht einer Whistler-Legierung (Co2MnGe) auf einem Silizium-Schichtträger mitsamt Oxiddünnschicht untersucht werden. Darüberhinaus können Informationen zur Herstellung einer Heterophase unter Hitzebehandlung erhalten werden.

Aus diesen Messergebnissen kann geschlossen werden, dass die Co2MnGe Schicht während des Wachstumsprozesses nur schwach kristalline Eigenschaften aufweist, jedoch unter Hitzeeinwirkung in L21-Struktur kristallisiert. Sobald die Temperatur noch zusätzlich erhöht wird, scheidet sich elementares Co auf der Schicht ab. (Die L21-Kristallstruktur besteht aus vier kubischen Formen wobei sich das Zentralatom von den Atomen in den jeweiligen Eckpositionen klar unterscheidet. Benachbarte Kuben bezitzen obendrein unterschiedliche Zentralatome.)

Als ein wichtiges Ergebnis präziser Beugungs- und Reflektivitätsmessungen kann festgestellt werden, dass Kristallinität, Gitterkonstanten, Oberflächen- und Grenzflächenrauhigkeit allesamt von der Temperatur der Hitzebehandlung abhängen.

Whistler alloy

In-plane and Out-of-Plane

Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more...