Prozentuale Kristallinität eines CuO-Aerogels

Die Eigenschaften von Materialien können vom Verhältnis amorpher zo kristalliner Substanzen sowohl bestimmt als auch gesteuert werden. Profilfitting-Verfahren geben dem Materialwissenschaftler dabei leistungsfähige Werkzeuge für routinemäßige und modernste Materialcharakterisierungen.

Mithilfe der Profile Shape Function (PSF) können Peaks so präzise wie möglich vermessen werden. Auf der Basis von korrigierten FWHM-Werten kann darüberhinaus die prozentuale Kristallinität eines Materials berechnet werden.

Das Beugungsbild unten wurde mit dem Ultima IV Mehrzweckdiffraktometersystem von Rigaku aufgenommen und zeigt eine solche Studie eines Kupferoxid (CuO)-Aerogels. Die prozentuale Kristallinität wurde ermittelt und beträgt für dieses Material ca. 65.6%.

diffraction pattern

Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more...