
This sixth generation benchtop diffraction system is a perfect XRD solution for R&D, QA/QC and teaching. Available high-speed detector, sample-changer and monochromator make it incredibly flexible.
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Durch die automatische Probenanpassung ist das Ultima IV für Spannungs- und Oberflächenmessungen ideal geeignet. Die bedarfsgesteuerten Streuungsmessungen mittels CBO bieten zwei besondere Vorteile gegenüber traditionellen Messungen von Polfiguren.
Die Datensammlung in einer Ebene kann einen Linienfokus-Strahl nutzen, was die Datenerfassungszeit und Probenfehler in nichthomogenen Materialien verbessert. Die Messungen von Polfiguren ersparen die zeitgleiche Sammlung von Reflektions- und Transmissionsdatensätzen für komplettte Oberflächenbestimmungen.
Unterstützte Spannungs- und Oberflächenanwendungen beinhalten:
- sin2 ψ (Spannungsmessungen)
- Bi-axiale Spannungsmessungen
- Konventionelle Polfiguren
- Polfiguren in einer Ebene
- Inverse Polfiguren
- Transmissions-Polfiguren
- cos α (Spannungsmessungen)
- Bestimmung der Orientientierungsverteilungsfunktion (ODF)
Bedarfsgesteuertes Scannen in einer Ebene bietet ultimative Flexibilität bei der Datensammlung von Polfiguren. In diesem Beispiel erstrecken sich die Datensätze der Polfiguren von einer Cu (111) Tafel mittels planarer Geometrie bis hin zur Grenze des Polfiguren-Plots. Das System musste demensprechend in den Punktfokussierungsmodus rekonfiguriert werden. Alternativ musste die Probe zur Transmissionsmessung der Sammlung dieser "kompletten" Polfigur, α = 0 to 90°, neu ausgerichtet werden.
Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more about Rigaku's Ultima IV...