Hochaufgelöste Spannungs- und Oberflächenmessungen

Durch die automatische Probenanpassung ist das Ultima IV für Spannungs- und Oberflächenmessungen ideal geeignet. Die bedarfsgesteuerten Streuungsmessungen mittels CBO bieten zwei besondere Vorteile gegenüber traditionellen Messungen von Polfiguren.

Die Datensammlung in einer Ebene kann einen Linienfokus-Strahl nutzen, was die Datenerfassungszeit und Probenfehler in nichthomogenen Materialien verbessert. Die Messungen von Polfiguren ersparen die zeitgleiche Sammlung von Reflektions- und Transmissionsdatensätzen für komplettte Oberflächenbestimmungen.

Unterstützte Spannungs- und Oberflächenanwendungen beinhalten:

• sin² ψ (Spannungsmessungen)
• Bi-axiale Spannungsmessungen
• Konventionelle Polfiguren
• Polfiguren in einer Ebene
• Inverse Polfiguren
• Transmissions-Polfiguren
• cos α (Spannungsmessungen)
• Bestimmung der Orientientierungsverteilungsfunktion (ODF)
  

Für Eigenspannungsmessungen ist die Bestimmung der absoluten Peakpositionen entscheidend. Weil Peakpositionen stark von Probenfehlwinkeln beeinflusst werden, sind sowohl CBO als auch die automatische Probenausrichtung wichtige Parameter für präzise und einfache Messungen. Die nachfolgende Abbildung zeigt einen traditionellen sin²ψ Plot einer Eisenmutter. Diese eigentümlich geformte Probe kann mittels CBO-konfiguriertem Ultima IV einfach ausgerichtet und präzise vermessen werden.

Bedarfsgesteuertes Scannen in einer Ebene bietet ultimative Flexibilität bei der Datensammlung von Polfiguren. In diesem Beispiel erstrecken sich die Datensätze der Polfiguren von einer Cu (111) Tafel mittels planarer Geometrie bis hin zur Grenze des Polfiguren-Plots. Das System musste demensprechend in den Punktfokussierungsmodus rekonfiguriert werden. Alternativ musste die Probe zur Transmissionsmessung der Sammlung dieser "kompletten" Polfigur, α = 0 to 90°, neu ausgerichtet werden.