Kleinwinkelröntgenstreuung von Nanomaterialien

Abbildung 1 zeigt ein Profil der Kleinwinkelröntgenstreuung eines (C3H6)n - α -Polypropylen-Nanomaterials, das am Ultima IV vermessen wurde. Diese Klasse von Nanomaterialien findet Einsatz in verschiedenen Anwendungen, inklusive hochfester Fasern für superleichte Verbundwerkstoffe und schwerentflammbarer Materialien.

Small Angle X-ray Scattering (SAXS) profile
Abbildung 1

Das beobachtete Profil kann mittels linearer Überlagerung des Beugungsprofils eines Nanostrukturmodells und der Instrumentenfunktion des Röntgensystems (blaue Linie in Abbildung 2) rekonstruiert werden.

a convolution of the scattering profile
Abbildung 2

Die NANO-Solver Software von Rigaku kann mithilfe nichtlinearer Kleinste-Quadrate-Approximation der Rohdaten des berechneten Strukturmodellprofils Informationen über die Größenverteilung und die Form der Partikel/Poren erlangen, siehe untenstehende Tabelle.

information about the size distribution and shape of the particles/pores
Abbildung 3



Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more about Rigaku's Ultima IV...