Vielzweck-Röntgendiffraktometer

Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem

Ultima IV

Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell.

Entwickelt für Effizienz

Mit einem Vielzweck-Diffraktometer wird die Effizienz nicht nur anhand von Schnelligkeit der Durchführung eines Experiments gemessen, sondern auch wie schnell man zwischen verschiedenen Arten von Experimenten wechseln kann. Individuelle Experimente werden optimiert mit Zubehörteilen wie dem D/teX Ultra hochgeschwindigkeits, positionsempfindlichen Detektorsystem, wohingegen die Geschwindigkeit zwischen verschiedenen Experimenten mit der Kombination aus automatischer Ausrichtung und CBO radikal verbessert wird.
Entickelt für Flexibilität
Das Ultima IV ist das heute einzige XRD-System auf dem Markt, das ein vollautomatisches Ausrichtungssystem beinhaltet. In Kombination mit CBO und dem Arm auf gleicher Ebene (in-plane arm), ist die Fähigkeit der automatischen Ausrichtung der Grund dafür, dass das Ultima IV Röntgendiffraktometer das flexibelste System überhaupt für Mehrzweck-Anwendungen ist.
Funktionalität neu definiert
Im Ultima IV XRD System wird mittels CBO Technologie das zeitaufwändige Wechseln der Geometrien überflüssig, was es dem alltäglichen Benutzer ermöglicht, zwei Arten von Experimenten ohne Systemrekonfiguration durchzuführen. Dadurch wird das System weniger beansprucht und zudem wird eine mögliche Beschädigung der optischen Systeme durch den Wechselprozess ausgeschlossen. CBO und die automatische Systemausrichtung tragen gemeinsam zu höchster Systemfunktionalität bei: Mikrokristalline Diffraktion, Dünschichtdiffraktion, Kleinwinkelstreuung und in-plane Streuung.
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Features:

  • Vollautomatische, computerkontrollierte Ausrichtung.
  • Optionaler in-plane Diffraktionsarm für Messungen auf gleicher Ebene ohne Rekonfiguration.
  • Fokussierung und Parallelstrahl-Geometrie ohne Rekonfiguration.
  • SAXS Fähigkeit.
  • Optional D/teX Ultra-hochgeschwindigkeits, positionsempfindliches Detektorsystem.
Röntgengenerator Maximale Nennleistung 3 kW
Röhren-Bemessungsspannung 20 - 60 kV
Röhren-Bemessungsstromstärke 2 - 60 mA
Auffangelektrode Cu (andere Materialien: optional)
Brennweite 0.4 x 12 mm (andere: optional)
Goniometer Abtastmodus θs/θd gekoppelt or θs, θd unabhängig
Goniometerradius 285 mm
2θ Messbereich -3 to 162° (maximal)
Minimale Schrittweite 0.0001°
Optik Divergenzspalt Stationär oder automatisch veränderbar
Streuungsspalt Stationär oder automatisch veränderbar
Empfängerspalt Stationär oder automatisch veränderbar
Optische Systeme Automatische Ausrichtung der Röhrenhöhe, Goniometer, Optik und Detektor
Monochromator Doppelpositions-Graphit-Diffraktionsstrahl Monochromator für Cu (andere Materialien: optional)
Detektor Detektor Szintillationszähler (andere: optional)
Abmessungen (mm) H x W x D 1600 x 1100 x 800
Probenhöhe 1050

PDXL ist Rigakus Software-Komplettpaket für Pulverdiffraktionsanalysen. Mit seinem intuitiven Design nach dem Baukasten-Prinzip, seiner ausgefeilten Engine und der benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche begeistert PDXL seit seiner Veröffentlichung im Jahr 2007 erfahrene Nutzer und Einsteiger gleichermaßen.

PDXL bietet verschiedenste Analysehilfsmittel wie automatische Phasenidentifikation, quantitative Analyse, Kristallitgrößenanalyse, Verfeinerung von Kristallgitterkonstanten, Rietveld-Analyse, ab initio-Strukturbestimmung und mehr.

Fundamental Parameter-Methode

Die Peakform in einem Pulverdiffraktionsdiagramm würde bei Messung unter Idealbedingungen als Delta-Funktion erscheinen. In der Realität ändert sich die Form eines Peaks jedoch in Abhängigkeit einer Reihe von Messbedingungen: Wellenlängenverteilung der Strahlenquelle, optische Systeme, Blendenbedingungen, Kristallitgröße und –deformation, etc. Peakformen, die unter realen Messbedingungen ermittelt wurden, werden mit Hilfe empirischer Funktionen wie der „Split-Pseudo-Voigt“-Funktion oder der „Split-Peason VII“-Funktion, die über eine gute Übereinstimmung mit den ermittelten Peakformen verfügt, beschrieben. Die Fundamental Parameter-Methode (FP-Methode) ist eine Methode zur Berechnung der Form eines Peaks unter Einbezug der spezifischen Geräte- und Probenbedingungen bei der jeweiligen Messung.

Phasenidentifizierung mittels COD

Die Crystallography Open Database (COD) ist eine kostenlose, gemeinfreie Datenbank von Kristallstrukturen, die in Fachzeitschriften der International Union of Crystallography, Mineralogical Society of America und anderen publiziert worden sind. Neben PDF-2 (Datenbank des International Centre for Diffraction Data) kann PDXL auch COD als Datenbank für automatische Phasenidentifizierungen einbeziehen, womit die ohnehin umfangreichen Fähigkeiten von PDXL nochmals um die mehr als 150.000 Kristallstrukturen der COD-Bibliothek erweitert werden.

Assistent für ab initio-Kristallstrukturanalysen

In jüngster Zeit finden sich zahlreiche publizierte Beispiele für ab initio-Kristallstrukturanalysen mittels Pulverdiffraktionsdaten. Diese Entwicklung lässt sich vor allem auf erhebliche Verbesserungen in der Geschwindigkeit von PC-Verarbeitungsprozessen sowie der Effizienz von Algorithmen für Strukturbestimmungen zurückführen.

PDXL stellt seit jeher all die Funktionen bereit, die für ab initio-Kristallstrukturanalysen notwendig sind – ob Indexierung oder Strukturbestimmung und -verfeinerung mit der Rietveld-Methode. Mit der Funktion „Structure Analysis Wizard“ bietet PDXL nun zusätzlich Unterstützung und Anleitung für all die Benutzer, die sich vor das komplexe Verfahren der Strukturanalyse - insbesondere organischer Verbindungen – gestellt sehen. Der Assistent macht es auch Einsteigern möglich, erfolgreich analytische Ergebnisse zu erzielen.

Clustering-Funktion

Mit der PDXL Clustering-Funktion können Daten mehrerer Scanvorgänge auf Grundlage von Gemeinsamkeiten in den ermittelten Pulverdiffraktionsdiagrammen und Peakpositionen gruppiert und in einem leicht verständlichen Verzeichnisbaum angezeigt werden. Dies ist insbesondere hilfreich bei der Klassifizierung und Auswahl von Daten bei einer großen Anzahl von Scans.

  • Such-/Übereinstimmungsanalyse mit PDF-2 und Crystallography Open Database
  • Quantitative Analyse
  • Prozent Kristallinität
  • Kristallitgröße und -deformation
  • Zellenverfeinerung
  • Eigenspannung
  • Indexierung
  • Profilanpassung über das gesamte Modell
  • Ab initio Strukturbestimmung mit Assistent
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