Benchtop-Totalreflexionsröntgenfluoreszenz (TXRF) Spektrometer

Schnelle Spurenelementaranalysen und Dünnschichtcharakterisierungen

NANOHUNTER II

Die neue, nächste Generation der NANOHUNTER™ II Benchtop Totalreflexions-Röntgenfluoreszenz (TXRF) Spektrometer von Rigaku ermöglicht hochempfindliche Ultra-Spurenelementaranalysen in Flüssigkeiten oder auf Feststoffoberflächen bis in parts-per-billion (ppb) Konzentrationsbereiche. Die Röntgenfluoreszenzspektroskopie mithilfe von Totalreflexionen ist eine Methode, bei der ein einfallender Röntgenstrahl die Probe lediglich streift und so niedrige Hintergrundstörungen und hochempfindliche Messungen von Ultra-Spurenelementen erlaubt.

TXRF für Spurenelementaranalysen in Umweltanwendungen

Aufgrund strengerer Umweltrichtlinien existiert ein größerer Bedarf an Analysen im ppb-Konzentrationsbereich. Dazu zählen zum Beispiel Arsen (As), Selen (Se) und Cadmium (Cd) in Fabrikabwässern. Mithilfe des NANOHUNTER™ II Spektrometers können Analysen im ppb-Konzentrationsbereich durchgeführt werden, sogar bei sehr kleinen Probengrößen. Dabei muss lediglich ein kleiner Flüssigkeitstropfen auf die Probenhalterung aufgebracht und getrocknet werden und die Messung kann daraufhin ausgeführt werden. Darüberhinaus können auch quantitative Analysen mithilfe interner Standardsubstanzen einfach durchgeführt werden.

Benchtop TXRF mittels Röntgenröhre und 600 W Leistung

Das NANOHUNTER™ II TXRF Analysesystem von Rigaku kombiniert eine komplett automatische, optische Achsenausrichtung und stabile, hochempfindliche Analysen mit einer einfach bedienbaren, kompakten Bauart für einen schnellen und problemlosen Betrieb. Mit einer hochleistungsfähigen 600 W Röntgenquelle, einem neu entwickelten Spiegel (optisch) und einem großflächigen Silizium-Drift-Detektor (SDD), ermöglicht das NANOHUNTER™ II Spektrometer hochintensive und hochempfindliche Messungen. Die unterste Nachweisgrenze für Cd beträgt dabei 2 ppb. Für As und Se in Lösung können untere Nachweisgrenzen von 0.8 ppb oder weniger erreicht werden.

Kα-Anregung fuer Cadmium (Cd)
Ein entscheidender Vorteil des NANOHUNTER™ II TXRF Analysesystems ist die hohe Effizienz mit der Kα Linien angeregt werden können. Bis heute stellt die Anregung von Kα Linien für 48Cd eine echte Herausforderung dar. In der Praxis wird lediglich die Analyse von L-Linien angewandt, welche jedoch schwierig zu messen sind. Die neu entwickelte Optik kann mit einer Hochleistungs-Anregungsquelle von 30 keV gekoppelt werden, wodurch die Messung von Kα Linien mit hohem Signal-Rausch-Verhältnis und eindeutig definierten Peaks bei der Messung von Cd ermöglicht wird. Breite Einsatzmöglichkeiten dieser Fähigkeit wird in Gebieten wie Übersichtsanalysen von Fabrikabwässern oder in Analysen in der Getränkeindustrie, wie z.B. Wein, erwartet.

GI-XRF für Tiefenprofile von Dünnschichten
In Einsatzbereichen der Analyse von Feststoffoberflächen gibt es einen Bedarf, tiefer in die Oberflächen eindringen zu können. Dies ist insbesondere in Gebieten der Dünn- und Dickschichtfilme der Fall. Für diese Analysearten existiert die Technik der Röntgenfluoreszenz unter streifendem Einfall (GI-XRD), wobei die Elemente unterhalb der Oberfläche mittels unterschiedlicher Einfallwinkel der Röntgenquelle angeregt werden. Da das NANOHUNTER II Spektrometer über die notwendigen Funktionen zur Veränderung der Einfallwinkel verfügt, wird die effiziente Durchführung von Tiefenprofilanalysen ermöglicht. Dabei ist die GI-XRF Technik auch für Anwendungen in der Nanoforschung geeignet.

Ask for more info

Features

  • Benchtop TXRF für Ultraspurenanalysen
  • GI-XRF Fähigkeit für Dünnschichtcharakterisierungen
  • Quantifizierungen bis in Parts-per-Billion (ppb) Bereiche
  • 600 W Röntgenröhre für schnelle Messungen
  • Silizium-Drift-Detektor (SDD)
  • Autosampler mit 16 Positionen
  • Hohe Empfindlichkeit für As, Se und Cd
  • Perfekt für Analysen von Nanopartikeln
  • Analyseumgebungen: Luft, N2*, oder He*

    *optional

NANOHUNTER II specifications:

X-ray tube Rated output 600 W
Target material Mo
XG Voltage/Current 50 kV - 15 mA
Optics Monochromator Double stacked
Grazing angle -0.05 ~ +0.45
Detector Type SDD (Peltier thermo-electric cooling)
Sample chamber Atmosphere Air, N₂*, He*
Turret 16
Sample size 26 x 76 mm, φ30mm
Thickness max. 5 mm
Measuring area 10 mm

*optional

If you are unable to view this video, click here to download it (84 MB).
Artikel:
(Drücken Sie die CTRL
Taste um mehrere
Gegenstände auszuwählen)
Name (Vor- und Nachname):
Firma:
E-mail:
Telefon: Durchwahl:
Addresse:
Stadt:
Bundesland:
Postleitzahl:
Land:
Zusätzliche Kommentare
 (keine URLs erlaubt)