NANOHUNTER II: Analyse von Palladiumkatalysatoren

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Mit einem traditionellen XRF-Spektrometer mit direkter Anregung ist es schwierig, intensive Spektren mit niedrigem Signal-Rausch-Verhältnis zu erlangen. Dies gilt aufgrund der hohen Hintergrundintensitäten des K-Linien-Energiebereichs (20-22 keV) insbesondere für Elemente wie Palladium (Pd) oder Rhodium (Rh). Mit der TXRF-Technik wird es jedoch möglich, die Hintergrundintensitäten in den gemessenen Spektren radikal zu reduzieren. In diesem Beispiel wurde die Kalibrierkurve von Proben bestimmt, indem 10 μL eines 5 ppm und 10 ppm wässrigen Pd-Standards auf einen Glasschichtträger und darauffolgender Trockung aufgebracht wurden. Eine niedrigere Nachweisgrenze (LLD) von 2 ppb wurde von dieser Kurve erhalten.