Kleinpunktanalyse einer bedruckten Leiterplattenoberfläche

Mit zunehmendem Bewusstsein für die ordnungsgemäße Nutzung von Lötpasten sowie die Entsorgung von bedruckten Leiterplatten, steigt der Bedarf an präzisen Analyse- und Identifikationstechniken stetig an.

XRF-Messungen kleiner Fragmente bedruckter Leiterplatten, besonders in der Forensik von Nutzen, können ganz ohne umgebende Materialien durchgeführt werden, die womöglich zur falschen Identifizierung des Lötmetalls führen würden. (Abbildung 1)

XRF measurements of small fragments of printed circuit boards

Abbildung 1

Ermöglicht wird dieses Leistungsvermögen druch Kombination der semi-quantitativen (SQX)-Analyse mit Mapping und Messfähigkeiten kleiner/diskreter Bereiche an den ZSX Primus und ZSX Primus II WDXRF-Systemen von Rigaku. Tabelle 1 zeigt die Ergebnisse der Analyse einer Probe bestehend aus einer NC254 SAC305 Legierung mit nominaler Zusammensetzung von Cu: 0.5%, Ag: 3.0% und Sn: 96.5%. Dabei wird offensichtlich, dass hiermit genaue Identifikationen von Legierungen für Lötpasten erhalten werden können.

combining the Semi-Quantitative (SQX) analysis with mapping and small spot/discrete area capabilities

Tabelle 1

Darüberhinaus ist klar erkennbar, dass die Einsatzmöglichkeiten dieser Systeme von grossem Nutzen für forensische Wissenschaftler sein können.


Das ZSX Primus von Rigaku ermöglicht schnelle quantitative Bestimmungen bedeutender und weniger bedeutender chemischer Elemente, von Beryllium (Be) bis Uran (U) in verschiedensten Probentypen mit minimalen Standards. Read more...