Mapping von Granit

Zum besseren Verständnis der Umwelt sind Geologen stets auf der Suche nach neuen, petrografischen Entdeckungen, selbst von alltäglichen Materialien. Granit ist ein solches Material. Aufgrund der Vielzahl unterschiedlicher Elemente in gefördertem Granit, wird eine interessante analytische Möglichkeit aufgeboten, wobei Elementarverteilungsbilder oder Fähigkeiten zur Erstellung von Profilanalysen ideal sind.

Im Fachgebiet moderner, innovativer, wellenlängendispersiver XRF-Technologie, wird diese Technologie nur von der ZSX Primus Serie WDXRF-Spektrometer für Forschungszwecke von Rigaku genutzt.

Granite large map image
Abbildung 1: Granit, großer Kartenausschnitt

Abbildung 1 zeigt eine ideale Probe für diese Art der Profilanalysen mittels Micromapping. Das große Mineralgestein auf der Oberfläche eines Grantiblocks, siehe roter Konturausschnitt, wurde am ZSX Primus von Rigaku auf sechs Elemente (Al, Ca, K, Na, Si, Rb) analysiert. Die Profilbilder wurden sowohl in zweidimensionalen als auch in dreidimensionalen grafischen Punkten erstellt, siehe hierzu Abbildung 2 und 3.

2D mapping
Abbildung 2: 2D-Mapping

2D mapping
Abbildung 3: 3D-Mapping

Das große Oberflächenmineral in dem Granitblock zeigt durchwegs, in der gesamten Mineralstruktur, einen allgemeinen Überschuss an Al. Innerhalb dieser Struktur existieren zwei zusätzliche Schwerpunktbereiche. Zunächst kann ein "Ring" an Ca und Na beobachtet werden. Dabei können zusätzlich erhöhte Werte an K und Rb zentriert im Inneren dieser Struktur gefunden werden. Die umgebenden, dunklen Bereiche im CCD-Bild bestehen verglichen mit der elementaren Zusammensetzung der gesamten Struktur aus Si in hoher Konzentration. Die Konzentration an Si zeigt sich dabei im Inneren des Minerals deutlich reduziert, wie der Vertiefung/Mulde im 3-D Bild entnommen werden kann.

Diese einfach dargestellten Daten können anschließend zur weiteren Festlegung bestimmter Fugen oder anderer Granittypen durch Geologen oder Hersteller geologischer Materialien gleichermaßen genutzt werden.


Das ZSX Primus II weist als Besonderheit eine innovative Konfiguration der Röntgenröhre und optischer Systeme über der Probenkammer auf. Sie müssen sich somit niemals wieder um Kontamination der Strahlenbahn oder um Zeitverlust wegen Reinigung und Instandhaltung der Probenkammer sorgen. Die Anordnung der optischen Systeme über der Probenkammer schließt notwendige Reinigungsschritte aus und vermindert so den Zeitaufwand. Read more...