Wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer

Leistungsstarkes WDXRF für schnelle quantitative Elementaranalysen

ZSX Primus II

Das ZSX Primus II von Rigaku liefert schnelle quantitative Bestimmungen häufiger und seltener vorkommender Elemente, von Beryllium (Be) bis hin zu Uran (U). Dies kann mit unterschiedlichsten Probentypen erreicht werden — mit minimalen Standards.

Anordnung der Röntgenröhre und optischer Systeme über den Proben für herausragende Zuverlässigkeit

Das ZSX Primus II weist als Besonderheit eine innovative Konfiguration der Röntgenröhre und optischer Systeme über der Probenkammer auf. Sie müssen sich somit niemals wieder um Kontamination der Strahlenbahn oder um Zeitverlust wegen Reinigung und Instandhaltung der Probenkammer sorgen. Die Anordnung der optischen Systeme über der Probenkammer schließt notwendige Reinigungsschritte aus und vermindert so den Zeitaufwand.

Low-Z mit Mapping and Multi-Spot-Analysen

Das ZSX Primus II liefert eine herausragende Leistungsfähigkeit zusammen mit der nötigen Flexibilität um auch die komplexesten Probentypen zuverlässig analysieren zu können. Als weitere Besonderheit wird das ZSX Primus II mit einer 30 Mikron Röntgenröhre ausgeliefert, der dünnsten Fensterröhre auf dem Markt. So können aussergewöhnlich gute Detektionsgrenzen (low-z) für leichte Elemente erreicht werden. In Kombination mit dem fortschrittlichsten Mapping-Paket, das der Ermittlung der Kristallhomogenität und der Detektion von Kristalleinschlüssen dient, ermöglicht das ZSX Primus II detailierte Untersuchungen von Proben und kann so zum Erkenntnissgewinn analytischer Ergebnisse beitragen, die so von anderen analytischen Verfahrensmethoden nicht erreicht werden können. Die optionale Multi-Spot-Analyse hilft darüberhinaus dabei, Probenfehler in inhomogenen Materialien zu beseitigen.

SQX Fundamentalparameter mit EZ-Scan Software

EZ-Scan macht es Benutzern möglich, unbekannte Proben ohne vorheriges Konfigurieren zu analysieren. Dieses zeiteinsparende Feature macht es möglich, dass Analysen mit ein paar Mausklick und der Namenseingabe der zu analysierende Probe gestartet werden können. In Kombination mit der SQX Fundamentalparameter Software können Analyseresultate höchster Präzision und Schnelligkeit erzielt werden. Darüberhinaus macht es SQX möglich, automatisch alle Matrixeffekte zu korrigieren, inklusive von Signalüberlappungen. Es vermag zudem, sekundäre Anregungseffekte von Photoelektronen leichter und ultraleichter Elemente zu korrigieren. Abschliessend können verschiedene Antmosphärengase eingestellt werden und Verunreinigungen sowie verschiedene Probengrößen vorkalibriert werden. Eine höhere Präzision wird durch Struktur-Bibliothekabgleichungen und Perfect-Scan Analyseprogrammen erzielt.

ZSX Primus II
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Features

  • Elementaranalysen von Be bis U
  • Anordnung der Röntgenröhre und der Optik über der Probenkammer minimiert Verschmutzungen
  • Geringe Standfläche verbraucht weniger Nutzfläche im Labor
  • Mikroanalysen für Probenanalysen bis zu 500 µm
  • 30μ Röntgenröhre macht überlegen präzise Analysen leichter Elemente möglich
  • Mapping Feature für Elementartopographie/-verteilung
  • Heliumversiegelung garantiert, dass sich die Probenkammer stets im Vakuum befindet

ZSX Primus II specifications

General
  Elemental coverage ₄Be through ₉₂U
  Optics Wavelength dispersive, sequential, tube above
X-ray generator
  X-ray tube End window, Rh-anode, 3kW or 4 kW, 60kV
  HV power supply High frequency inverter, ultra-high stability
  Cooling Internal water-to-water heat exchanger
Spectrometer
  Sample changer 48 positions standard, 96 optional
  Sample inlet APC automatic pressure controller
  Maximum sample size 51 mm (diameter) by 30 mm (high)
  Sample rotation speed 30 rpm
  Primary X-ray filters Al25, Al125, Ni40 and Ni400
  Beam collimators 6 auto-selectable diameters: 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 mm
  Divergence slit 3 auto-selectable: standard, high, and coarse (optional) resolutions
  Receiving slit For SC and for F-PC detectors
  Goniometer θ – 2θ independent drive mechanism
  Angular range SC: 5-118°, F-PC: 13-148°
  Angular reproducibility Ultra-high precision
  Continuous scan 0.1 - 240°/min
  Crystal changer 10 crystals, automatic mechanism
  Vacuum system 2 pump high-speed system w/ (optional) powder trap
  He flush system Optional, with partition
Detector systems
  Heavy element detector Scintillation counter (SC)
  Light element detector Flow proportional counter (F-PC)
  Attenuator In-out automatic exchanger (1/10)
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ZSX Primus II software

Overview:

  • Qualitative analysis:
    • Automatic peak identification
    • Smoothing, background subtraction
  • Quantitative analysis:
    • Matrix correction: Lachance-Traill, DeJohngh, JIS, etc.
    • Linear, quadratic and cubic regression, multiple line
    • Fundamental parameter method
  • EZ scan (qualitative)
  • Application template
  • Analysis area automatic selection (mask size detection)
  • Peak deconvolution (function and standard profile)
  • Background fitting (multi-point function fitting, area designation)
  • Fixed precision analysis
  • Help function
  • E-mail forwarding function
  • Universal standard sample
  • Analysis simulation program (analysis depth evaluation, etc.)

Optional:

  • SQX program
    • EZ scan (SQX)
    • Fixed angle measurement
    • Thin-film analysis
    • Theoretical overlap correction
    • Drift correction library
    • Photoelectron FP method
    • He atmosphere correction
    • Sample film correction
      • Impurity correction
      • Matching library
      • SQX scatter FP method
      • Material judgment
  • Quantitative scatter FP method
  • Quantitative FP theoretical overlap correction
  • Fusion disk correction (flux evaporation)
  • Charge correction
  • Program operation
    • Time preset analysis
    • Energy saving
    • Auto power off
  • Sample observation mechanism
  • Point/mapping function
  • Remote control function (VCP)
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