Wellenlängendispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer mit 'tube-above' Anordnung

Hochleistungsfähiges WDXRF für rasche quantitative Elementaranalysen

ZSX Primus III+

Das ZSX Primus III+ von Rigaku liefert schnelle quantitative Bestimmungen unterschiedlicher Elemente von Sauerstoff (O) bis Uran (U), verschiedenster Mengen in vielfältigen Probentypen mit minimalen Standards.

Optische Systeme mit 'tube-above' Anordnung für optimale Zuverlässigkeit

Das ZSX Primus III+ bietet eine innovative Konfiguration der Optik mit 'tube-above' Anordnung. Nie wieder müssen Sie wegen verunreinigter Strahlenquellen eine eingeschränkte Leistungsfähigkeit des Systems durch Wartung der Probenkammer in Kauf nehmen. Die 'tube-above' Anordnung der Optik verhindert zeitaufwändige Reinigungsprozesse und erhöht so die Effizienz des Instruments.

Hochpräzise Probenpositionierung

Die hochpräzise Positionierung der Proben garantiert eine konstante Distanz zwischen der Probenoberfläche und der Röntgenröhre. Dies ist insbesondere für anspruchsvolle Anwendungen entscheidend die eine hohe Reproduzierbarkeit erfordern, wie etwa bei der Analyse von Legierungen. Das ZSX Primus III+ vermag es dabei, Analysen mit hoher Genauigkeit auszuführen. Erreicht wird dies unter anderem durch die einzigartige Konfiguration der Optik. Potentielle Fehlerquellen, etwa durch nicht planare Oberflächen, insbesondere bei Schmelztabletten oder Presslingen, werden so ausgeschlossen.

SQX Fundamentalparameter mit EZ-Scan Software

EZ-Scan erlaubt dem Benutzer unbekannte Proben auch ohne Vorabkonfiguration zu analysieren. Dieses zeitsparende Feature erfordert nur ein paar wenige Mausklick und die Eingabe eines Probennamens. In Kombination mit der SQX Fundamentalparameter-Software können so schnelle XRF Ergebnisse mit höchster Genauigkeit erzielt werden. SQX kann dabei eventuelle Matrixeffekte, wie auch Signalüberlagerungen, mit hoher Effizienz korrigieren. Photoelektroneneffekte (von leichten und ultraleichten Elementen) wie Sekundäranregungen können durch SQX ebenfalls korrigiert werden. Die Präzision wird dabei durch Abgleichsbibliotheken und Perfect Scan Analyseprogrammen noch zusätzlich erhöht.

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Features

  • Elementaranalysen von O bis U
  • 'Tube-above' Optik verhindert Probleme durch Verunreinigungen
  • Kleine Stellfläche mit geringem Platzbedarf im Labor
  • Hochpräzise Probenpositionierung
  • Spezielle optische Systeme veringern potentielle Fehlerquellen durch nicht planare Probenoberflächen
  • Software-Funktionen für statistische Prozesskontrolle (SPC)
  • Evakuierungs- und Vakuumleckrate kann für hohe Durchsatzleistung optimiert werden

ZSX Primus III+ specifications

General
  Elemental coverage ₈O through ₉₂U
  Optics Wavelength dispersive, sequential, tube above
X-ray generator
  X-ray tube End window, Rh-anode, 3kW, 60kV
  HV power supply High frequency inverter, ultra-high stability
  Cooling Internal water-to-water heat exchanger
Spectrometer
  Sample changer 48 positions standard
  Maximum sample size 51 mm (diameter) by 30 mm (high)
  Sample rotation speed 30 rpm
  Primary X-ray filters Al25, Al125, Ni40 and Ni400
  Beam collimators 4 auto-selectable diameters: 35, 30, 20 and 10 mm
  Divergence slit 3 auto-selectable: standard, high, and coarse (optional) resolutions
  Receiving slit For SC and for F-PC detectors
  Goniometer θ – 2θ independent drive mechanism
  Angular range SC: 5-118°, F-PC: 13-148°
  Angular reproducibility Ultra-high precision
  Continuous scan 0.1 - 240°/min
  Crystal changer 10 crystals, automatic mechanism
  Vacuum system High-speed system
Detector systems
  Heavy element detector Scintillation counter (SC)
  Light element detector Flow proportional counter (F-PC)
  Attenuator In-out automatic exchanger (1/10)

ZSX Primus III+ software

Overview:

  • Qualitative analysis:
    • Automatic peak identification
    • Smoothing, background subtraction
  • Quantitative analysis:
    • Matrix correction: Lachance-Traill, DeJohngh, JIS, etc.
    • Linear, quadratic and cubic regression, multiple line
    • Fundamental parameter method
  • EZ scan (qualitative)
  • Application template
  • Analysis area automatic selection (mask size detection)
  • Peak deconvolution (function and standard profile)
  • Background fitting (multi-point function fitting, area designation)
  • Fixed precision analysis
  • Help function
  • E-mail forwarding function
  • Universal standard sample
  • Analysis simulation program (analysis depth evaluation, etc.)

Optional:

  • SQX program
    • EZ scan (SQX)
    • Fixed angle measurement
    • Thin-film analysis
    • Theoretical overlap correction
    • Drift correction library
    • Photoelectron FP method
    • Sample film correction
      • Impurity correction
      • Matching library
      • SQX scatter FP method
      • Material judgment
  • Quantitative scatter FP method
  • Quantitative FP theoretical overlap correction
  • Fusion disk correction (flux evaporation)
  • Charge correction
  • Program operation
    • Time preset analysis
    • Energy saving
    • Auto power off
  • Remote control function (VCP)
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