组成

用于元素分析和相位分析的XRF和XRD

X射线荧光(XRF)和X射线衍射(XRD)是两种非破坏性确定未知样品组成的常用技术。X射线荧光提供从元素B到元素U的从百万分率(PPM)到百分率的元素组成信息。使用基本参数(FP)法,XRF可以提供无需参考标准的定量分析。X射线衍射提供相组成鉴定和并且可以区分样品中主要、次要和微量成分。XRD分析包括物质的矿物名称、化学式和晶体系统和ICDD国际数据库的参考图谱编号。无标准的定量信息也可从XRD Rietveld分析中获得。

仪器

  MiniFlex
用于物相分析和晶相的定量分析等常规目的的新型第5代台式XRD仪器
    SmartLab
通过系统指导软件(Guidance)运行的最新锐的高分辨率XRD仪器
    Ultima IV
用于应用程序从研发到品质管理的高性能多功能的XRD仪器
  RAPID II
弯曲成像板(IP)XRD仪器,特点为极大孔径和旋转阳极或密封型X射线管线源(二选一)
    Supermini
台式下照射式WDXRF光谱仪分析元素范围从F到U的固体、液体和粉末样品
    ZSX Primus
高功率、下照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪
  ZSX Primus II
高功率、上照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪
    Simultix 15
高功率、下照射式、多道同时WDXRF光谱仪分析元素范围从Be到U
    MFM65
用于图案化晶片的工程管理用XRR、XRF和XRD计量工具,最高可测量300mm的晶片