涂料

Rigaku recommends the following systems: 
NEX QC   NEX QC
低成本EDXRF元素分析仪测试元素范围从Na到U的固体、液体、粉末和薄膜样品
  NEX CG   NEX CG
高性能、解析几何EDXRF元素分析仪测试元素范围从Na到U的固体、液体、粉末和薄膜样品
  Mini-Z Series   Mini-Z Series
质量控制应用程序的下照射式WDXRF单个元素分析仪
MiniFlex   MiniFlex
用于物相分析和晶相的定量分析等常规目的的新型第6代台式XRD仪器
  Ultima IV   Ultima IV
用于应用程序从研发到质量管理的高性能多功能的XRD仪器
  SmartLab   SmartLab
通过系统指导软件(Guidance)运行的最新锐的高分辨率XRD仪器
Supermini   Supermini200
台式下照射式WDXRF光谱仪分析元素范围从F到U的固体、液体和粉末样品
  ZSX Primus   ZSX Primus
高功率、下照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪
  ZSX Primus II   ZSX Primus II
高功率、上照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪

薄膜的厚度与组成

涂料

现代生活各个方面的便利都来源于涂料或薄膜技术。无论是集成电路片中的阻挡膜或是铝制饮料罐的转化涂层,X射线分析技术对于研发发展、生产过程控制和品质保障都是不可或缺的。X射线荧光(XRF)可以测量金属涂层的厚度和元素组成。通常作为一种计量工具应用于半导体制造过程。X射线反射率(XRR)用于测量涂料的多层膜的图层厚度,还可以表征其他涂料特性,例如粗糙度和中间层扩散。是纳米技术研究、X射线衍射(XRD)和相关技术领域的领先技术,用于检测薄膜的分子结构的性质。理学公司提供了多种非破坏性分析测量涂料和薄膜的分析方法。