RIR法による非晶成分の定量分析

application

X線回折法における非晶質成分の定量分析法としては、ピーク分離法、Ruland法、Vonk法、Rietveld法などがあります。一般的に、ピーク分離法、Ruland法、Vonk法は結晶成分と非晶成分が同一成分であるという前提があります。対してRietveld法は多成分系試料に適用可能ですが、従来の非晶成分定量法には内標準物質を添加する必要がありました。ここでは内標準物質を必要としないRIR法(Reference Intensity Ratio)を用いたRietveld解析により、多成分系粉末試料中の非晶成分の定量分析を行いました。


このアプリケーションをPDFで見る

application