NEX DEによる セメント原料、製品の分析

蛍光X線分析法はセメントの主要成分及び微量成分の含有率を分析することで、セメント原料の受け入れ、中間品の組成比の管理、出荷検査などに広く利用されています。NEX DEは高計数率対応の検出器(SDD)により主要成分分析を短時間かつ安定して行うことができます。


このアプリケーションをPDFで見る