SAXS: Polímeros y geles

Información estructural no-destructiva

Ya que la consunción mundial de polímeros esta creciendo tan rápida como el costo de los materiales crudos que se necesitan para crearlos, la industria de polímeros se interesa en emplear técnicas de dispersión de rayos X (SAXS) y otras técnicas de difracción relacionadas para suplir una gran cantidad de información estructural, como: tamaño, forma, estructura y masa interna de las partículas, dimensiones fractales en sistemas desordenados. La Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) puede ser usada para facilitar lo que comprendemos de la relajación de los flujos inducidos por orientación, ya que compite con la cristalización en el procesamiento de polímeros, lo cual lleva a una predicción sistemática de procesos, estructura, y relaciones propietarias en la producción de plásticos.

Otras aplicaciones incluyen el estudio de inhomogeneidades en geles de polímero, complejos inter-polímeros, y gelificaciones termo-reversibles en soluciones de polímeros. La SAXS es usada para investigar varios coloides y sistemas surfactantes, incluyendo el efecto de la interacción entre los polímeros del tamaño y forma de micelas surfactantes en agua, evaluación de dimensiones de micelas de surfactantes nuevos, y la inter-estructura de celosías poliméricas multi-componente como una función de composición y su método de preparación.

En relación con el estudio de co-polímeros de bloque, las capacidades del S-MAX3000 con capacidad ultra-SAXS, en combinación con la calorimetría diferencial de barrido (DSC), permiten el desarrollo del conocimiento de como funciona la interacción entre la cinética y la termodinámica en la formación de esos materiales.

Rigaku ofrece una variedad de opciones para la SAXS; desde el -MAX3000 con capacidad ultra-SAXS, hasta el poderos y flexible Ultima IV y el fácil-de-usar SmartLab®

Systems

  S-MAX3000
Sistema de cámara estenopeica para la difracción de rayos X de pequeño ángulo (SAXS)
    BioSAXS-2000
Sistema de cámara Kratky para la difracción de rayos X de pequeño ángulo