Composición

Análisis de fase elemental con XRF y XRD

Dos técnicas comúnmente usadas para determinar la composición de muestras desconocidas sin destruirlas son la Fluorescencia de rayos X (FRX o XRF) y la difracción de Rayos X (DRX o XRD). La fluorescencia de Rayos X proporciona información de la composición elemental de la muestra mediante el boro (B) a través del uranio (U), ya sea en partes por millón (ppm) o porcentaje (%) de niveles. Usando algoritmos de parámetros fundamentales (FP), la XRF puede analizar la muestra cuantitativamente sin la necesidad de usar estándares de referencia. La difracción de rayos X identifica la composición de fase, y puede identificar trazas mayores y menores de los compuestos presentes en el cristal. El análisis XRD identifica el nombre mineral de la substancia, su formula química, sistema cristalino, y un número de patrón para usar como referencia en la base de datos internacional ICDD. Información cuantitativa sin estándar también puede ser obtenida mediante el XRD usando análisis Rietveld.

Sistemas

  MiniFlex
Quinta generación del sistema general polivalente de sobremesa XRD para identificación de fase en experimentos de cuantificación de fase.
    SmartLab
Sistema de la vanguardia de la alta definición para la difracción de rayos X (XRD), motorizado por el sistema de software experto, Guidance.
    Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X (XRD) polivalente y de alto rendimiento para investigación, desarrollo, y control de calidad.
  RAPID II
Sistema avanzado para la detección de rayos X de área curva en moléculas pequeñas. Cubre espacios recíprocos excepcionalmente grandes.
    Supermini200
Espectrómetro secuencial WXRF de sobremesa y con tubo por debajo – analiza el floro (F) a través del uranio (U) en solidos, líquidos, y polvos
    ZSX Primus
Espectrómetro secuencial WXRF de alto poder y con tubo por debajo – con proceso de asignación (mapeo) y función superior del elemento de luz.
  ZSX Primus II
Espectrómetro secuencial WXRF de alto poder y con tubo por encima – con proceso de asignación (mapeo) y función superior del elemento de luz.
    Simultix 15
Espectrómetro WXRF multi-canal, simultaneo, de alto rendimiento, y con tubo por debajo – analiza el berilio (Be) a través del uranio (U).
    MFM65
Herramienta para la metrología de procesos de XRR, XRF, y XRD con obleas estampadas; obleas de un máximo de 300mm