Difracción de rayos X en temperaturas altas

Estudie el comportamiento de los materiales como funciones de temperatura.

La difracción de rayos X (DRX o XRD) en condiciones no-ambientales puede ser usada para una variedad de aplicaciones, incluyendo el estudio de los procesos dinámicos que deben ser estudiados in situ. Ejemplos de tales procesos son las reacciones que implican el estado solido de los materiales, sus fases de transición, crecimiento cristalino, expansión termal, etc. La difracción de rayos X puede ser usada como un complemento informativo en conjunción con técnicas térmicas más tradicionales (termogravimetria, escaneos de calorimetría diferencial, etc.), proporcionando, entonces, identificación de fase, análisis textural, y medidas de tamaño cristalino.

Systems

  RAPID II
Sistema avanzado para la detección de rayos X de área curva en moléculas pequeñas. Cubre espacios recíprocos excepcionalmente grandes.
    Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X (XRD) polivalente y de alto rendimiento para investigación, desarrollo, y control de calidad.
    SmartLab
Sistema de la vanguardia de la alta definición para la difracción de rayos X (XRD), motorizado por el sistema de software experto, Guidance.