Difracción en temperaturas bajas

Estudie procesos dinámicos que deben ser investigados in situ

La difracción de rayos X (DRX o XRD) en condiciones no-ambientales puede ser usada para una variedad de aplicaciones, incluyendo el estudio de procesos dinámicos que deben ser investigados in situ. Ejemplos de tales procesos son las reacciones que involucran estados solidos, transiciones de fase, formación cristalina, expansión termal, etc. La difracción de rayos X puede ser usada como un complemento informativo para técnicas de análisis térmico mas tradicionales (termogravimetria, escaneo de calorimetría diferencial, etc.) y, así, proporcionar identificación de fase, análisis textural, y medidas de tamaño de cristalito.

Sistemas

  RAPID II
Sistema avanzado para la detección de rayos X de área curva en moléculas pequeñas. Cubre espacios recíprocos excepcionalmente grandes.
    Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X (XRD) polivalente y de alto rendimiento para investigación, desarrollo, y control de calidad
    SmartLab
Sistema de la vanguardia de la alta definición para la difracción de rayos X (XRD), motorizado por el sistema de software experto, Guidance.