Micro-difracción

Análisis y asignación (mapeo) de muestras o áreas pequeñas usando XRD

El análisis de Difracción de rayos X (DRX o XRD) de muestras o áreas pequeñas es comúnmente referido como micro-difracción. Se considerada la técnica preferente cuando las muestras son demasiado pequeñas para la óptica de instrumentos de difracción convencionales. El método en sí utiliza un micro-rayo X para que las características de difracción puedan se asignadas como función de posición de muestra (DFM). Los datos de difracción pueden contener información sobre la identificación de compuestos, orientación (textura) cristalina, tensión, cristalinidad, y tamaño del cristal. La micro-difracción está creciendo en popularidad en los campos de investigación y fabricación de materiales porque hasta los dominios más pequeños afectan la confiabilidad y rendimiento de los productos. Aplicaciones del análisis mediante micro-difracción incluyen: almohadillas para análisis de obleas con patrón; bibliotecas de compuestos formadas por química combinatoria; inclusiones de especímenes geológicos; análisis de falla en componentes metálicos o plásticos; control de calidad (QC).

Sistemas

  RAPID II
Sistema avanzado para la detección de rayos X de área curva en moléculas pequeñas. Cubre espacios recíprocos excepcionalmente grandes
    TTRAX III
El drifractómetro de rayos X en θ/θ alta resolución mas poderoso del mundo – caracterizado por su brazo de difracción en el plano
    MFM65
Herramienta metrológica para obleas con patrones en los procesos de reflectividad de rayos X (XRR), Fluorescencia de rayos X, y difracción de rayos X (XRD) – obleas de no mas de 300mm