Tamaño y forma de partículas

Difracción de rayos X (XRD) de nano-materiales

Las propiedades físicas y químicas de las nano-partículas y los materiales nano-cristalinos son fuertemente influenciadas por el tamaño, forma, y tensión estructural de las partículas, incluyendo: reología, área de superficie, capacidad de intercambio de cationes, solubilidad, reflectividad, etc. El tamaño del cristalito se obtiene midiendo la ampliación de la difracción de algún rayo X con reflexión plana particular dentro de la unidad de celda de cristal. La ampliación es inversamente relacionada con la anchura a media altura (FWHM) de un pico individual: Mientras más estrecho el pico, más grande el tamaño del cristalito. Esto se debe a la periodicidad de los dominios de cristalito en fase que refuerzan la difracción del rayo X, resultando en un pico alto y estrecho. Si los cristales son libres de defectos y ordenados periódicamente, el rayo X es difractado al mismo ángulo, aún a través de las varias capaz de la muestra. Si los cristales son ordenados azarosamente, o tienen grados de periodicidad muy bajos, los picos resultan más anchos.

Sistemas

  TTRAX III
El drifractómetro de rayos X en θ/θ alta resolución mas poderoso del mundo – caracterizado por su brazo de difracción en el plano.
    Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X (XRD) polivalente y de alto rendimiento para investigación, desarrollo, y control de calidad.
    SmartLab
Sistema de la vanguardia de la alta definición para la difracción de rayos X (XRD), motorizado por el sistema de software experto, Guidance.