Cristalografía de polvo

Determine estructuras moleculares tridimensionales (3D) con XRD de polvos

Cristalografía de polvo

La determinación de estructuras de cristales usando datos obtenidos mediante la difracción de rayos X (DRX o XRD) de polvos es el futuro para muchos campos de investigación, incluyendo ciencias materiales, biotecnología, y farmacéuticos. Las aplicaciones en las cuales el crecimiento de cristales de calidad suficiente como para efectuar difracción con mono-cristales son bastante limitantes. Por eso mismo, la cristalografía de polvos con rayos X se ha convertido en una opción viable para la determinación de estructuras moleculares 3D. Al igual, la refinación de estructuras con datos de difracción de rayos X de polvos se a convertido en un paso rutinario en muchos laboratorios.


Sistemas

TTRAX III   TTRAX III
El drifractómetro de rayos X en θ/θ alta resolución mas poderoso del mundo – caracterizado por su brazo de difracción en el plano
  Ultima IV   Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X (XRD) polivalente y de alto rendimiento para investigación, desarrollo, y control de calidad.
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Sistema de la vanguardia de la alta definición para la difracción de rayos X (XRD), motorizado por el sistema de software experto, Guidance.