Texturas y figuras de polos

Uso de Difracción de Rayos X (DRX o XRD) para determinar la distribución de orientaciones cristalográficas

En las ciencias materiales, la texturización se debe a la distribución de las orientaciones cristalográficas de una muestra. Se dice que una muestra en la cua estas orientaciones son azarosas tiene textura azarosa. Si las orientaciones cristalográficas no son azarosas, pero tienen una dirección preferente, entonces se dice que la muestra tiene dirección débil, fuerte, o moderada. El grado de textura depende del porcentaje de cristales que tienen una orientación preferida. La textura es vista en casi todos los materiales de ingeniería, y puede ser de gran influencia en las propiedades materiales. Por lo general, la textura es representada usando “figuras de polo”, en las cuales un axis (o polo) cristalográfico especifico de cada uno de ciertos números de cristalitos representativos son trazados en una proyección estereográfica, junto con direcciones relevantes a la historia de procesamiento del material. La “curva oscilante” es una figura de polo corta en una sola dirección cristalográfica, donde la anchura del perfil es una figura del merito del grado de la textura.

Sistemas

  TTRAX III
El drifractómetro de rayos X en θ/θ alta resolución mas poderoso del mundo – caracterizado por su brazo de difracción en el plano
    RAPID II
Sistema avanzado para la detección de rayos X de área curva en moléculas pequeñas. Cubre espacios recíprocos excepcionalmente grandes.
   
  Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X (XRD) polivalente y de alto rendimiento para investigación, desarrollo, y control de calidad.
    SmartLab
Sistema de la vanguardia de la alta definición para la difracción de rayos X (XRD), motorizado por el sistema de software experto, Guidance.