Revestimiento

Espesor y composición de películas delgadas

Cada aspecto de los beneficios de la vida moderna desde el revestimiento o tecnología de película delgada. Ya sea una barrera de capa de película en un chip de circuito integrado o de un revestimiento de conversión de una bebida de lata de aluminio, las técnicas analíticas de rayos X son fundamentales para el desarrollo tanto en I+D, el control de proceso de producción y aseguramiento de la calidad. La fluorescencia de rayos X (FRX o XRF) puede determinar el espesor y la composición elemental de revestimientos metálicos. Comúnmente empleados en el proceso de fabricación de semiconductores como una herramienta de metrología, la reflectometría de rayos X (RRX o XRR) se utiliza para medir espesores de capa en una pila de múltiples capas de revestimientos y también puede caracterizar otras propiedades de revestimiento como la rugosidad y la difusión interlaminar. Emergiendo como un proveedor líder de investigación de nanotecnología, la difracción de rayos X (DRX o XRD) y técnicas asociadas se emplean para examinar la naturaleza de la estructura molecular de las películas. La tecnología y experiencia de Rigaku proporcionan una variedad de soluciones analíticas no destructivas para el revestimiento y las mediciones de película delgada.

Systems: 
  NEX QC
El analizador elemental de bajo costo EDXRF mide de la Na a la U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
    NEX CG
Analizador elemental de alto rendimiento geometría cartesiana-EDXRF, mide de la Na a la U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
    Mini-Z Series
Analizador de un solo elemento WDXRF de tubo debajo, para aplicaciones de control de calidad
  MiniFlex
Nuevo sistema de 5th-generación DRX de sobremesa con propósito general para la fase de identificación y cuantificación
    Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X multipropósito de alto rendimiento, para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad
    SmartLab
Novedoso sistema avanzado DRX de alta resolución, impulsado por el sistema experto Guidance
  Supermini200
Espectrómetro secuencial de sobremesa de tubo por debajo WDXRF, que analiza de la F hasta la U en los sólidos, líquidos y polvos
    ZSX Primus
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo por debajo con mapeo o asignación y un rendimiento superior a elementos ligeros
    ZSX Primus II
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo por encima, con mapeo o asignación y un rendimiento superior a elementos ligeros