Medio ambiente

Análisis elemental de aguas residuales, suelos y sedimentos

La fluorescencia de rayos X por longitud de onda dispersiva (WDXRF) es una buena técnica analítica a elegir para la supervisión de los sedimentos y suelos contaminados; la determinación de metales tóxicos en el aire y el agua y la clasificación de los materiales para su reciclaje y posterior eliminación. La caracterización y recuperación de sitios contaminados del suelo requiere de ensayos rápidos y fiables. Aprobado como una técnica por la Agencia para la Protección Ambiental de E.U. (EPA, por sus siglas en inglés), la fluorescencia de rayos X se utiliza de forma sistemática para determinar las concentraciones de metales pesados (metales RCRA) en suelos y sedimentos.

La nueva legislación ambiental de la Unión Europea (CE-Consejo de Europa) conocida como RoHS/WEEE, tendrá implicaciones significativas para muchas empresas manufactureras en términos de mercadeo, diseño, fabricación y "hasta el final de su existencia" la recuperación y el reciclaje. El análisis de fluorescencia de rayos X puede ayudar a los fabricantes a cumplir con RoHS/WEEE, proporcionando un análisis elemental rápido y no destructivo. La tecnología y la experiencia de Rigaku ofrecen una serie de soluciones únicas para estas determinaciones.

Systems: 
  NEX CG
Analizador elemental de alto rendimiento geometría cartesiana-EDXRF, mide de la Na a la U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
    Supermini200
Espectrómetro secuencial de sobremesa de tubo por debajo WDXRF, que analiza de la F hasta la U en los sólidos, líquidos y polvos
    MiniFlex
Nuevo sistema de 5ta-generación DRX de sobremesa con propósito general para la fase de identificación y cuantificación
  ZSX Primus
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo por debajo con mapeo o asignación y un rendimiento superior a elementos ligeros
    ZSX Primus II
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo por encima, con asignación y un rendimiento superior a elementos ligeros
    Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X multipropósito de alto rendimiento, para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad