Metales

DRX y FRX para tensión residual y análisis elemental

Las fundidoras, fundidores y fábricas, así como otros aspectos de la industria de los metales, se caracterizan por tener días de producción continua y exigente y control en la noche, tanto del proceso y la calidad de los materiales entrantes y salientes. El análisis de fluorescencia de rayos X (FRX o XRF) juega un papel preponderante en el control de los procesos de producción dentro de estas industrias. La velocidad y la precisión de la fluorescencia de rayos X hace que sea un método de prueba preferida cuando se requiere del análisis químico de alto rendimiento para apoyar el proceso de producción. Además de la estequiometría de la aleación, otra característica importante de los metales es la tensión residual que se correlaciona con un fallo estructural. La difracción de rayos X (DRX o XRD) es la única manera precisa de medir la tensión residual de forma no destructiva. La DRX ofrece mediciones sin contacto con resolución espacial insuperable y la capacidad de medir materiales endurecidos. Para cumplir con los requisitos variados y exigentes de estas tareas de análisis, Rigaku ofrece una amplia gama de sistemas de instrumentación que permiten componentes flexibles y manejo de la muestra que se adaptan a cada presupuesto y necesidad.

Systems: 
  ZSX Primus
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo por debajo con mapeo o asignación y un rendimiento superior a elementos ligeros
    Simultix 14
Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento de tubo por debajo de varios canales simultáneos, analizan de la Be hasta la U
    Supermini200
Espectrómetro secuencial de sobremesa de tubo por debajo WDXRF, que analiza de la F hasta la U en los sólidos, líquidos y polvos
  Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X multi-propósito de alto rendimiento, para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad
    TTRAX III
El difractómetro de rayos X de alta resolución θ/θ más poderoso del mundo cuenta con un brazo de difracción en plano
    MiniFlex
Nuevo sistema de 5ta-generación DRX de mesa con propósito general para la fase de identificación y cuantificación