Nanotecnología

DRX, RRX y SAXS para la caracterización de nano escala

La nanotecnología es únicamente de carácter interdisciplinaria, abarcando una amplia gama de campos de investigación, como la biología, la química, la física y la ingeniería. El factor común en la nanotecnología es la dimensión lateral de las estructuras estudiadas. Definida como materiales que están dentro o que contienen componetes, la mil millonésima parte (10-9) de metro, la investigación y el desarrollo de nanotecnología se basa en la medición exacta de distancias atómicas y moleculares dentro de las estructuras que varían desde dispositivos semiconductores a los nanos-polvos. Puesto que las dimensiones de longitudes de onda de rayos X son de la misma magnitud que el tamaño de las nanoestructuras, la difracción de rayos X (DRX o XRD) y las técnicas asociadas son las herramientas principales para el investigador de nanotecnología. La reflectometría de rayos X (RRX o XRR) determina el espesor de la capa, la rugosidad y la densidad. Los rayos X de alta resolución y difracción pueden medir el espesor de capa, la rugosidad, la composición química, el espaciamiento reticular, la relajación y más. La dispersión difusa de rayos X se ​​utiliza para determinar correlaciones laterales y transversales, distorsiones, densidad y porosidad. La difracción en plano de incidencia rasante se emplea para estudiar las correlaciones laterales de capas delgadas orgánicas e inorgánicas, así como perfiles de profundidad. Por último, la dispersión de rayos X por pequeños ángulos (SAXS) pueden determinar el tamaño, forma, distribución, orientación, y la correlación de las nano-partículas presentes en los sólidos o soluciones. Rigaku combina la tecnología y la experiencia para proporcionar una serie de productos de difracción de rayos X para aplicaciones de la nanotecnología.

Systems: 
  MiniFlex
Nuevo sistema de 5ta generación DRX de sobremesa con propósito general para la fase de identificación y cuantificación
    RAPID II
Sistema avanzado de zona curvada de rayos X detector de pequeñas moléculas, ofrece una cobertura de espacio recíproco excepcionalmente grande
    Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X multipropósito de alto rendimiento, para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad
  TTRAX III
El difractómetro de rayos X de alta resolución θ/θ más poderoso del mundo cuenta con un brazo de difracción en plano
    S-MAX3000
Sistema de cámara pin-hole (foco puntual) de disperción de rayos X por pequeños ángulos (SAXS)
    SmartLab
Novedoso sistema avanzado DRX de alta resolución, impulsado por el sistema experto Guidance