Polímeros y plásticos

DRX (o XRD) y FRX (o XRF) para el análisis elemental y de fase

Polímeros y plásticos

Para todas las tareas de investigación de polímeros, desarrollo de productos y control de calidad de la producción, el análisis de la fluorescencia de rayos X (FRX o XRF) puede identificar y cuantificar las concentraciones de aditivos (pigmentos, materiales de relleno, pirorretardantes, estabilizadores), como antimonio, bario, bromo, calcio, cromo (de las normas RoHS/WEEE), cobre, fósforo, titanio o zinc.

Además, muchos polímeros plásticos tienen un cierto orden y puede ser identificado y estudiado por métodos de difracción de rayos X (DRX o XRD). Estos polímeros son, al menos en parte, cristalino o pseudo-cristalino con estructuras parcialmente ordenados que causan picos de difracción. El porcentaje de cristalinidad a menudo se relaciona con métodos de procesamiento y es de gran importancia en la química de polímeros. Otros usos de la difracción de rayos X en los plásticos y polímeros de investigación y la producción son: determinación del tipo de unidad de red celular y los parámetros, la determinación de la microestructura, y la determinación de la orientación cristalográfica a través de figuras de polo.

Los polímeros también pueden ser investigados por el pequeño ángulo de rayos X (SAXS). Ya sea disuelto o como un sólido, la técnica SAXS puede caracterizar polímeros de acuerdo con extensa escala de estructura interna. La tecnología y la experiencia de Rigaku se combinan para proporcionar una serie de productos de rayos X analíticos para estas aplicaciones.

Systems: 
NEX QC   NEX QC
Analizador elemental de bajo costo EDXRF mide de la Na a la U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
  NEX CG   NEX CG
Analizador elemental de alto rendimiento geometría cartesiana-EDXRF, mide de la Na a la U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
  MiniFlex   MiniFlex
Nuevo sistema de 6th-generación DRX de sobremesa con propósito general para la fase de identificación y cuantificación
Supermini   Supermini200
Espectrómetro secuencial de sobremesa de tubo por debajo WDXRF, que analiza de la F hasta la U en los sólidos, líquidos y polvos
  S-MAX3000   S-MAX3000
Sistema de cámara pin-hole (foco puntual) de disperción de rayos X por pequeños ángulos (SAXS)
  RAPID II   RAPID II
Sistema avanzado de zona curvada de rayos X detector de pequeñas moléculas, ofrece una cobertura de espacio recíproco excepcionalmente grande
TTRAX III   TTRAX III
El difractómetro de rayos X de alta resolución θ/θ más poderoso del mundo cuenta con un brazo de difracción en plano
  Ultima IV   Ultima IV
Sistema de difracción de rayos X multipropósito de alto rendimiento, para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad
  SmartLab   SmartLab
Novedoso sistema avanzado DRX o XRD de alta resolución, impulsado por el sistema experto Guidance