WPPF法とRIR法を用いた定量結果の違い ~ 配向を持つ試料の定量分析 ~

X線回折法を用いた定量分析では、試料の状態や対象成分の濃度などによって定量方法を使い分けます。検量線を用いた方法の場合、標準試料の確保、試料調製や測定の煩雑さが生じることから、現在では、WPPF(Whole Powder Pattern Fitting)法やRIR(Reference Intensity Ratio)法による解析に置き換わりつつあります。WPPF法は結晶系や格子定数の情報をもとに、比較的広い角度範囲についてプロファイルフィッティングを行う方法であり、RIR法は、データベースに記載されているRIR値と最強線の積分強度を利用する方法です。どちらも専用の解析ソフトウェアを使用することで容易に定量値を算出することができます。


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