高分子フィルムの3方位測定と配向度解析

ポリプロピレンやポリエチレンなどの高分子フィルムは機械強度増加のために加熱しながら延伸成形を行います。延伸に伴いフィルム中の結晶成分が配向し、特定の方向に揃うため、粉末試料などで用いる反射法による測定だけでは十分な情報を得ることが困難です。ここでは、厚み200 µmの高分子フィルムに対して3方向からX線を入射し、得られた2次元回折像から配向の様子を調べました。


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