シリコーン被膜の定性分析

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ラベル・包装・キッチン用品などに用いられる材料には、剥離性や撥水性の向上等を目的としてシリコーン(ケイ素樹脂)に代表されるSi化合物が塗布されることがあります。このような製品の製造現場では、樹脂の塗布量が不足した不良品が出荷されてしまうことを防ぐための管理分析として蛍光X線分析法が広く利用されています。今回、エネルギー分散型蛍光X線分析装置 NEX DE を用いて種々の材料上に塗布されたSiの分析を行った例をご紹介します。


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