Sistema de cristalografía química de placa de imagen curva

Determinación rápida de la estructura molecular en 3D de moléculas pequeñas

R-AXIS RAPID II

El R-AXIS RAPID II de Rigaku es un sistema compacto de alta resolución completamente integrado, para la cristalografía de pequeñas moléculas. Es el más reciente miembro de la familia RAPID de sistemas de difracción de rayos X de placa de imagen curva (IP) para grandes áreas. El RAPID II combina todos los componentes necesarios para un sistema de difracción de alto rendimiento de rayos X, ofreciendo un rendimiento sin compromiso para aplicaciones que van desde la cristalografía aplicada a la cristalografía química. El sistema flexible trabaja con longitudes de onda de CR a Ag sin comprometer la calidad de los datos. Su abertura extremadamente grande significa que el intervalo de resolución completa para cualquier longitud de onda puede ser cubierta con mucha facilidad. El R-AXIS RAPID es el sistema de elección para las aplicaciones más exigentes, incluyendo el trabajo de carga de densidad, duplicaciones complicadas y estudios sobre la dispersión difusa. Otras aplicaciones incluyen la microdifracción, la medición de difracciones débiles de materiales desordenados, amplio ángulo de dispersión de rayos X (WAXS), el estrés, las mediciones de textura, y la difracción en polvo para propósitos generales.

Detector curvado para una cobertura máxima de espacio recíproco

El RAPID II es tan versátil que puede sustituir varios instrumentos sin comprometer la calidad de los datos. Su detector curvo único para grandes áreas subtiende un rango de 2θ de 204° en una sola configuración de detector para una cobertura máxima del espacio recíproco. La gran área activa curvada es ventajosa porque un ángulo sólido masivo de datos se recoge en una sola exposición. Mientras que el amplio rango dinámico elimina la preocupación por saturación del detector, la geometría curva de la placa del RAPID II reduce los efectos de absorción de la incidencia de rayos X oblicuos, observados con detectores planos de cualquier tipo.

Elección de fuentes de rayos X, incluyendo doble longitud de onda

Inherente a la flexibilidad única de este sistema es la selección de fuentes de rayos X, que van desde un de tubo cerrado 3 kW de alta frecuencia, a un microfoco de tubo sellado MicroMax-003, a un microfoco de ánodo giratorio MicroMax-007 HF de 1.2 kW. La ópticas disponibles van desde un monocromador de grafito tradicional u óptica SHINE™ de alto rendimiento a una óptica confocal de rayos X Va-rimax™. La doble longitud de onda está disponible con las nuevas fuentes opcionales MicroMax-007 HF DW o FR-E+ DW SuperBright™, en este nuevo enfoque, dos ópticas se encuentran alojadas en un solo ensamblaje, ya sea con la óptica siendo seleccionada por una simple rotación. Además, la característica patentada de divergencia ajustable se mantiene para cada óptica.

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Features

  • Sin afectar o comprometer la determinación de la estructura molecular
  • Longitudes de onda disponibles múltiples y doble
    • Cu, Mo, Ag, etc.
  • Recopilación rápida de datos
  • Alto rango dinámico y bajo ruido de fondo
  • Mediciones de alta resolución de densidad de carga
  • Mide difracciones débiles de materiales desordenados
  • Difracción de polvo
  • Micro-difracción
  • Dispersión difusa

Especificaciones de RAPID II (SMC)


Imagen de placa (IP) y el escáner:
  • Detector: IP cilíndrico con eje de traslación vertical
  • Radio: 127.4 mm
  • Rango2θ: dirección tangencial -60 ° a 144 °
  • Área activa: 460 mm x 256 mm
  • Tamaño del píxel: 100 μm x 100 μm, 100 μm x 150 μm, o 200 μm x 200 μm, seleccionable por el usuario
  • Número de IPs: 1
  • Método de lectura: exploración helicoidal de alta velocidad
  • Tiempo de lectura: 51 seg.
  • Tiempo de borrado: 20 seg.
  • Ciclo de operaciones (borrado, lectura, posicionamiento): ca. 90 seg. (100 μm x 100 μm de exploración)
  • Rango dinámico: 524,000:1
  • Sensibilidad: 2 ADU/fotón de rayos X (Cu Kα)
  • Tamaño de la imagen: 23.5 Mbytes en 100 m x 100 m de modo de lectura

Goniómetro (parcial-χ, goniómetro de 3-ejes):
  • ω eje: -85° a 265° 0.002° /paso
  • χ eje: -15° a 55° 0.0002° /paso
  • φ eje: 360° 0.002° /paso
  • Esfera de confusión: ≤ 20 μm
  • Cabezal de goniómetro: cabezal de goniómetro sin arcos IUCr, 49 mm

Óptica de rayos X:
  • Monocromador: cristal de grafito plano, óptica SHINE or VariMax™ (opcional)
  • Colimador: 0.3 mm, 0.5 mm y 0.8 mm double pinhole
  • Colimador: 0.1 mm, 0.2 mm y 0.3 mm de colimador capilar (opcional)

Otras especificaciones:
  • Cámara: cámara de 1/3" para la alineación de muestras y observación, la imagen a color es mostrada en la computadora principal a 70X de aumento
  • Generador de rayos X: tubo sellado de 3 kW, ánodo giratorio UltraX 18 : Cu, Mo o Ag MicroMax™ -007 HF microfoco de ánodo giratorio: Cu o Mo
  • Computadora: PC con Windows®
  • Software: Software automatizado CrystalClear™ para la medición/procesamiento; software para la indexación del rostro usando una cámara de vídeo CCD; software TwinSolve de integración de cristal dobles (opcional); respaldado por HKL-2000®; suite AreaMax de procesamiento de polvo (opcional);

Software RAPID II

CrystalClear

CrystalClear es el paquete de recopilación de datos y de análisis diseñado para los datos de cristal único (monocristal). Basado en la barra de flujo de interfaz de usuario fácil-de-usar de Rigaku, CrystalClear guía al usuario a través de los pasos necesarios para recoger y preparar un conjunto de datos para la determinación de la estructura. Incluye la recolección de datos, visualización de la imagen, la indexación, la determinación de grupo espacial, la integración, la ampliación y corrección de la absorción.

Software opcional

Los paquetes opcionales de software incluyen 2DP, 3D Explore y PDXL.

El 2DP es un paquete de software de procesamiento de datos 2D para propósitos generales que ofrece el procesamiento de imágenes 2D e integración para el polvo y otros materiales policristalinos.

El 3D Explore es un paquete de visualización estado del arte para el mapeo de espacio recíproco y el análisis de la figura de polo.

La suite de difracción de polvo PDXL ofrece módulos para el análisis básico de difracción de polvo, búsqueda automática de coincidencias, refinamiento Rietveld, simulaciones de patrones de polvo, determinación del tamaño del cristalito, y porcentaje de cristalinidad.

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