Instrumento de difracción de rayos X (DRX o XRD) de sobremesa

Análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos

MiniFlex

En el 2012 se anunciaron las últimas adiciones al MiniFlex, una serie de sobremesa con analizadores de difracción de rayos X (DRX o XRD). La nueva quinta generación del MiniFlex, es un difractómetro de rayos X para propósitos generales que pueden realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos. El MiniFlex ya está disponible en dos variaciones. Se opera a 600 watts (tubo de rayos X), el MiniFlex 600 dos veces más potente que otros modelos de sobremesa, lo que permite realizar un análisis más rápido y un rendimiento general mejorado. Funciona a 300 watts (tubo de rayos X), el nuevo MiniFlex 300 no requiere un cambiador de calor externo. Cada modelo está diseñado para maximizar la flexibilidad en paquete compacto de sobremesa.

Idealmente adecuado para analizar a pasos rápidos la difracción de rayos X, la nueva quinta generación de MiniFlex ofrece la velocidad y la sensibilidad a través de mejores tecnologías innovadoras, como la opción D/teX detector de alta velocidad junto a la nueva fuente de rayos X 600W. El monocromador de grafito opcional, junto con el contador de centelleo estándar, maximiza la sensibilidad mediante la optimización con proporciones de pico a ratios de fondo. Si la resolución es de suma importancia, las aberturas de haz incidente y difractado pueden ser seleccionadas para proporcionar la resolución deseada. Para el flujo de altas muestras, el MiniFlex es el único sistema de sobremesa con difracción de rayos X que contiene un cambiador de muestras disponibles. Ya sea que usted enseñe difracción de rayos a nivel universitario o a nivel rutinario para la calidad industrial garantizada, el MiniFlex ofrece ambos: rendimiento y valor.

Cada MiniFlex viene con la versión más reciente de PDXL, el paquete con todas las funciones de análisis de difracción de polvo de Rigaku. La última versión del PDXL ofrece una nueva funcionalidad importante, que incluye un método de parámetros fundamentales (FP) para un pico de cálculo más exacto, fase de identificación usando la Crystallography Open Database (COD), y un asistente para el análisis de estructura ab initio de cristales.

El MiniFlex original, introducido en 1973, fue diseñado para capacitar a un usuario novato en producir resultados, comparables a los que puede obtener un difraccionista entrenado, con un instrumento compacto de difracción de rayos X. El nuevo MiniFlex se basa en las características que lo han hecho popular durante muchos años - incluyendo el tamaño compacto y diseño sólido - que permite su instalación en un espacio pequeño, es fácil de usar, y tiene un bajo costo de propiedad.

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Descripcion general:

  • Nuevo diseño de 5ª generación para 2012
  • Caja a prueba de fallos de radiación, compacto
  • Haz incidente de hendidura variable
  • De fácil instalación y entrenamiento al usuario
  • Sistema de goniómetro alineado en fábrica
  • Funcionamiento con ordenador portátil
Medidas:
  • Fase de identificación
  • Fase de cuantificación
  • Porcentaje (%) de cristalinidad
  • Tensión y tamaño del cristalito
  • Refinamiento de parámetros de matriz
  • Perfeccionamiento Rietveld
  • Estructura molecular
Opciones:
  • Muestreador automático de 6 posiciones
  • Monocromador de grafito
  • Detector de banda de silicio de alta velocidad
  • Portamuestras sensibles al aire
  • Estuche de viaje

MiniFlex accessories

ASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
Sample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
Specimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
Graphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
Air-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
D/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
BTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
HyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

PDXL es un software suite omnifuncional de análisis de difracción por polvo. El diseño modular, su motor avanzado y la GUI (interfaz gráfica de usuario) fácil de usar, han sido de la satisfacción de los usuarios experimentados y novatos desde el lanzamiento de PDXL en 2007.

PDXL ofrece diversas herramientas de análisis tales como la identificación automática de fase, el análisis cuantitativo, el análisis del tamaño de los cristalitos, red constante de refinamiento, análisis de Rietveld, determinación de la estructura ab initio, etc.

Método de parámetros fundamentales

La forma de pico en un patrón de difracción por polvo parece ser una función delta si se mide bajo condiciones ideales. En realidad, los cambios en la forma de pico se dan dependiendo de un número de condiciones de medición: distribución de longitud de onda de la fuente, los sistemas ópticos, las condiciones de hendidura, el tamaño de los cristalitos y la tensión, y así sucesivamente. Las formas de los picos obtenidos a partir de las mediciones realizadas en condiciones reales se describen utilizando una función empírica como una función de partición pseudo-Voigt, o una partición Pearson VII, la función que tiene un buen acuerdo con las formas de los picos obtenidos. El método parámetro fundamental (método PF) es un método para calcular la forma de pico por convolución de las formas causadas por todas las condiciones instrumentales y la muestra.

Fase de identificación usando COD

La Crystallography Open Database (COD) es una base de datos gratis y de dominio público de las estructuras cristalinas publicadas por la Unión Internacional de Cristalografía, la Sociedad Mineralógica de América y otras asociaciones. PDXL puede incorporar tanto ICDD/PDF-2 y COD para llevar a cabo la fase de identificación automática, adicionando la biblioteca DQO con más de 150,000 estructuras cristalinas a las ya capacidades substanciales de PDXL 2.
Asistente para el análisis de estructura cristalina ab initio
Recientemente, han habido muchos ejemplos publicados de análisis de estructura cristalina ab initio realizados en datos de difracción por polvo. Este desarrollo se atribuye principalmente a mejoras significativas en la velocidad del procesamiento de las PC y en la eficiencia de los algoritmos utilizados para la determinación de la estructura.

PDXL ha proporcionado hasta ahora todas las funciones requeridas para el análisis de estructura cristalina ab initio, tales como la determinación de la estructura de indexación, y el refinamiento de estructura por el método de Rietveld. Ahora, “el asistente para análisis de estructura” está disponible en PDXL para proporcionar apoyo y orientación a los usuarios que realizan el complicado procedimiento de análisis de estructura, en particular de los compuestos orgánicos. Este sistema asistente hace posible que incluso los principiantes puedan obtener éxitos de análisis.

Función de agrupamiento
La característica de agrupamiento PDXL puede agrupar los datos de varios análisis basados en similitud de los patrones de difracción por polvo y las posiciones de los picos, y muestra los datos agrupados en un árbol fácil de leer. Esto es particularmente efectivo cuando se trata de la clasificación y la detección de los datos de un gran número de exploraciones.

  • Análisis de búsqueda/coincidencia con PDF-2 y la base de datos Cristalografía Abierta (Open Cristalografía)
  • Análisis cuantitativo
  • Porcentaje (%) de cristalinidad
  • Tensión y tamaño del cristalito
  • Perfeccionamiento celular
  • Tensión residual
  • Indexación
  • Perfil completo de patrón de ajuste
  • La estructura de solución ab initio con asistente


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