Cuantificación de fases de zeolita

Las zeolitas son usadas comúnmente en una gran variedad de aplicaciones industriales, incluyendo la limpieza ambiental, el craqueo de petróleo, filtraciones/separaciones, y el intercambio de cationes. Estos materiales pueden ser minados de fuentes naturales o sintetizados comercialmente. Una estructura básica de tetraedro de cinco cilicios y un aluminio resulta en una estructura parecida a una jaula con espacios abiertos grandes, “poros”. Estos poros tienen regiones cargadas, las cuales atraen o intercambian cationes. Para lograr que exhiban actividades efectivas e incorporación de cationes específicos, las zeolitas deben ser puras y específicas. La difracción de rayos X es el método preferente para la identificación y cuantificación de impuridades (identificación de fase).

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Figura 1: Este patrón de Difracción de Rayos X del MiniFlex presenta dos muestras de zeolitas:
S75 y S79. Las líneas rojas indican la presencia de una fase de sodalita; las líneas azules
indican la presencia del de zeolita de tipo LTA.

Por lo general, el patrón completo del el método de Proporción Relativa de Intensidad (PRI o RIR) no necesita ser integrado o tener ajuste de perfil; solo las regiones con los picos de intensidad más fuertes lo necesitan. El ajuste de perfil proporciona información del área de los picos individuales y del patrón completo. Después del ajuste de perfil, las áreas de los picos son asignadas a fases individuales representadas por colores. Easy Quant, la función cuantitativa RIR del software Jade de MDI, usa la información del área de los picos junto con la identificación de fase para calcular los porcentajes cada fase identificada.

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Figura 2: Resultados de la cuantificación mediante el método RIR de la muestra S75 basados en el patrón de difracción. El grafico de tarta indica un porcentaje de peso de la fase de sodalita de 3.5%

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Figura 3: Resultados de la cuantificación mediante el método RIR de la muestra S79 basados en el patrón de difracción. El grafico de tarta indica un porcentaje de peso de la fase de sodalita de 1.6%


miniflexEn el 2012 se anunciaron las últimas adiciones al MiniFlex, una serie de sobremesa con analizadores de difracción de rayos X (DRX o XRD). La nueva sexta generación del MiniFlex, es un difractómetro de rayos X para propósitos generales que pueden realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos. El MiniFlex ya está disponible en dos variaciones. Se opera a 600 watts (tubo de rayos X), el MiniFlex 600 dos veces más potente que otros modelos de sobremesa, lo que permite realizar un análisis más rápido y un rendimiento general mejorado. Funciona a 300 watts (tubo de rayos X), el nuevo MiniFlex 300 no requiere un cambiador de calor externo. Cada modelo está diseñado para maximizar la flexibilidad en paquete compacto de sobremesa. Read more about Rigaku's MiniFlex...