Identificación XRD: esquito vs. pizarra – conozca su pizarra o pague las consecuencias

El esquito y la pizarra son materiales metamórficos que, aunque no son iguales, son usados indistintamente. Muchos de los materiales vendidos hoy en día para el paisajismo (losar, muros de contención) y la construcción (pizarrones, tejas, mesas para albercas, etc) son llamados “pizarra” cuando, en realidad, son esquito; un material inferior. El esquito está compuesto de sedimentos parecidos a la arcilla compactados en capas delgadas y desmenuzables. Puede contener altas cantidades de cuarzo, feldespatos, sílice amorfa, pirita, y minerales de arcilla: Illita, clorita caolinita y esmectita (montmorillionite). La arcilla de esmectita es un componente altamente absorbente que se puede inchar y llegar a tamaños mucho más grandes que su tamaño normal, lo cual la hace perder fuerza (resistencia). Por otra parte, la pizarra es mucho más resistente y no absorbe agua (¿Recuerda usted que rápido se secaban los pizarrones cuando tenía que quedarse a limpiarlos después de clase?). En general, la pizarra es mucho más fuerte que el esquito. Sin embargo, ciertos tipos de pizarra siguen siendo indeseables. También existe una forma de la pizarra compuesta de altas cantidades de calcita/dolomita que se llama Pizarra de Marga, la cual viene de Durnham, UK y puede ser más suave y fácilmente atacada por ácidos. Los esquitos, materiales mucho más baratos, pueden ser vendidos como pizarra a precios más altos, pero siguen teniendo menos resistencia y durabilidad que la pizarra. El sistema de Difracción de Rayos X (DRX o XRD) de sobremesa MiniFlex de Rigaku pude efectuar mediciones de una pieza de “pizarra” en granel o pulverizada para averiguar si de verdad es lo que dice.

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Figura 1: Muestra de esquito

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Figura 2: Muestra de pizarra

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Figura 3:Patrón de difracción del esquito, el cual consiste de cuarzo, clorito, e ilitia

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Figura 4: Patrón de difracción de la pizarra (tipo Marga) con listado de marcadores de fase

El uso de análisis de mapeo (asignación) elemental de fluorescencia de rayos X también ayuda a identificar la concentración de variaciones a través de las superficies para verificar el análisis de fase XRD. Favor de ver la asignación de aplicaciones byte y el análisis semi-cuantitativo de esquito-pizarra para obtener más detalles.


En el 2012 se anunciaron las últimas adiciones al MiniFlex, una serie de sobremesa con analizadores de difracción de rayos X (DRX o XRD). La nueva quinta generación del MiniFlex, es un difractómetro de rayos X para propósitos generales que pueden realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos. El MiniFlex ya está disponible en dos variaciones. Se opera a 600 watts (tubo de rayos X), el MiniFlex 600 dos veces más potente que otros modelos de sobremesa, lo que permite realizar un análisis más rápido y un rendimiento general mejorado. Funciona a 300 watts (tubo de rayos X), el nuevo MiniFlex 300 no requiere un cambiador de calor externo. Cada modelo está diseñado para maximizar la flexibilidad en paquete compacto de sobremesa. Read more...