Panqueques

La identificación de fase mediante Difracción de Rayos X (DRX o XRD) funciona casi igual al análisis de huellas dactilares. Se recopilan patrones de XRD de muestras desconocidas, y se comparan con los patrones obtenidos de materiales conocidos. La base de datos primaria de estos patrones de XRD es compilada y mantenida por el Centro Internacional de Datos de Difracción (CIDD o ICDD). En algunos casos industriales, es posible que los patrones de XRD preferentes para el análisis óptimo de procesos específicos no estén presentes en la base de datos ICDD. En estos casos el software de análisis MiniFlex les permite a los usuarios hacer su propia base de datos basada en los patrones de materiales comunes y/o importantes para sus procesos.


pancake2

Figura 1: Los ingredientes de los componentes alimenticios pueden ser difíciles de identificar, pero el MiniFlex puede remover algunas de estas complicaciones al identificarlos mediante el barrido de ingredientes en bruto.

Considere la producción de una mezcla orgánica compleja, como la mezcla para panqueques. En lugar de compuestos moleculares, los ingredientes primarios que se necesitan controlar en este proceso de producción son azúcar morena, polvo de hornear, harina, etc. Sin embargo, es posible que todos los ingredientes primarios no estén presentes en la base de datos. Mediante la recopilación y adición de los patrones de XRD de cada ingrediente (Figura 2) a la base de datos del usuario en el software, se puede efectuar una identificación de fase y control de calidad de la mezcla de panqueques (Figura 3).


pancake3

Figura 2: Los ingredientes en bruto individuales fueron escaneados y superpuestos. Cada uno de los materiales en bruto fueron escaneados, y sus patrones fueron agregados a la base de datos.


pancake4


Figura 3: Superposición de los patrones añadidos a la base de datos recientemente con la XRD original de la mezcla de panqueques. Esta mezcla contiene harina, polvo para hornear, bicarbonato de sodio, azúcar blanca, y azúcar morena. Esto confirma la identidad de los componentes individuales.


miniflexEn el 2012 se anunciaron las últimas adiciones al MiniFlex, una serie de sobremesa con analizadores de difracción de rayos X (DRX o XRD). La nueva sexta generación del MiniFlex, es un difractómetro de rayos X para propósitos generales que pueden realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos. El MiniFlex ya está disponible en dos variaciones. Se opera a 600 watts (tubo de rayos X), el MiniFlex 600 dos veces más potente que otros modelos de sobremesa, lo que permite realizar un análisis más rápido y un rendimiento general mejorado. Funciona a 300 watts (tubo de rayos X), el nuevo MiniFlex 300 no requiere un cambiador de calor externo. Cada modelo está diseñado para maximizar la flexibilidad en paquete compacto de sobremesa. Read more about Rigaku's MiniFlex...