Identificación de un lodo desconocido

La Difracción de Rayos X (DRX o XRD) es una técnica de análisis excelente para identificar materiales sólidos desconocidos. Los patrones de XRD pueden funcionar como huellas dactilares para identificar materiales desconocidos en muestras cristalinas y semi-cristalinas.

La Figura 1 es una foto de un lodo adquirido de una bomba de agua deteriorada. Los patrones de XRD de este material (Figura 2), recopilados usando el difractómetro de sobremesa MiniFlex de Rigaku, revelan que esta muestra contiene componentes cristalinos y amorfos. Las jorobas amplias en el patrón vienen de los componentes amorfos, mientras que los picos agudos vienen de la porción cristalina. Al determinar la localización e intensidad de los picos de difracción y coincidirlos con la base de datos de materiales cristalinos conocidos, es posible identificar los componentes cristalinos de la muestra.

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Figura 1: Muestra de lodo de la bomba de agua.

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Figura 2: Identificación de fase de la muestra de lodo seco

En este caso, los picos revelan que el material contiene calcio monohidrato de oxalato y sulfuro de hierro.


En el 2012 se anunciaron las últimas adiciones al MiniFlex, una serie de sobremesa con analizadores de difracción de rayos X (DRX o XRD). La nueva sexta generación del MiniFlex, es un difractómetro de rayos X para propósitos generales que pueden realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos. El MiniFlex ya está disponible en dos variaciones. Se opera a 600 watts (tubo de rayos X), el MiniFlex 600 dos veces más potente que otros modelos de sobremesa, lo que permite realizar un análisis más rápido y un rendimiento general mejorado. Funciona a 300 watts (tubo de rayos X), el nuevo MiniFlex 300 no requiere un cambiador de calor externo. Cada modelo está diseñado para maximizar la flexibilidad en paquete compacto de sobremesa. Read more about Rigaku's MiniFlex...