Instrumento de difracción de rayos X (DRX o XRD) de sobremesa

Análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos

MiniFlex

En el 2012 se anunciaron las últimas adiciones al MiniFlex, una serie de sobremesa con analizadores de difracción de rayos X (DRX o XRD). La nueva sexta generación del MiniFlex, es un difractómetro de rayos X para propósitos generales que pueden realizar un análisis cualitativo y cuantitativo de materiales policristalinos. El MiniFlex ya está disponible en dos variaciones. Se opera a 600 watts (tubo de rayos X), el MiniFlex 600 dos veces más potente que otros modelos de sobremesa, lo que permite realizar un análisis más rápido y un rendimiento general mejorado. Funciona a 300 watts (tubo de rayos X), el nuevo MiniFlex 300 no requiere un cambiador de calor externo. Cada modelo está diseñado para maximizar la flexibilidad en paquete compacto de sobremesa.

Idealmente adecuado para analizar a pasos rápidos la difracción de rayos X, la nueva sexta generación de MiniFlex ofrece la velocidad y la sensibilidad a través de mejores tecnologías innovadoras, como la opción D/teX detector de alta velocidad junto a la nueva fuente de rayos X 600W. El monocromador de grafito opcional, junto con el contador de centelleo estándar, maximiza la sensibilidad mediante la optimización con proporciones de pico a ratios de fondo. Si la resolución es de suma importancia, las aberturas de haz incidente y difractado pueden ser seleccionadas para proporcionar la resolución deseada. Para el flujo de altas muestras, el MiniFlex es el único sistema de sobremesa con difracción de rayos X que contiene un cambiador de muestras disponibles. Ya sea que usted enseñe difracción de rayos a nivel universitario o a nivel rutinario para la calidad industrial garantizada, el MiniFlex ofrece ambos: rendimiento y valor.

Cada MiniFlex viene con la versión más reciente de PDXL, el paquete con todas las funciones de análisis de difracción de polvo de Rigaku. La última versión del PDXL ofrece una nueva funcionalidad importante, que incluye un método de parámetros fundamentales (FP) para un pico de cálculo más exacto, fase de identificación usando la Crystallography Open Database (COD), y un asistente para el análisis de estructura ab initio de cristales.

El MiniFlex original, introducido en 1973, fue diseñado para capacitar a un usuario novato en producir resultados, comparables a los que puede obtener un difraccionista entrenado, con un instrumento compacto de difracción de rayos X. El nuevo MiniFlex se basa en las características que lo han hecho popular durante muchos años - incluyendo el tamaño compacto y diseño sólido - que permite su instalación en un espacio pequeño, es fácil de usar, y tiene un bajo costo de propiedad.

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Descripcion general:

  • Nuevo diseño de 5ª generación para 2012
  • Caja a prueba de fallos de radiación, compacto
  • Haz incidente de hendidura variable
  • De fácil instalación y entrenamiento al usuario
  • Sistema de goniómetro alineado en fábrica
  • Funcionamiento con ordenador portátil
Medidas:
  • Fase de identificación
  • Fase de cuantificación
  • Porcentaje (%) de cristalinidad
  • Tensión y tamaño del cristalito
  • Refinamiento de parámetros de matriz
  • Perfeccionamiento Rietveld
  • Estructura molecular
Opciones:
  • Muestreador automático de 6 posiciones
  • Monocromador de grafito
  • Detector de banda de silicio de alta velocidad
  • Portamuestras sensibles al aire
  • Estuche de viaje

MiniFlex accessories

AccessoryASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
AccessorySample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
AccessorySpecimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
AccessoryGraphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
AccessoryAir-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
AccessoryD/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
AccessoryBTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
AccessoryHyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

SmartLab Studio II is a new Windows®-based software suite developed for the flagship Rigaku SmartLab X-ray diffractometer that integrates user privileges, measurements, analyses, data visualization and reporting. Newly available for the MiniFlex, the modular (plugin) architecture of this software delivers state-of-the-art interoperability between the functional components. Just one click switches from measurement to analysis. Watch real-time scans from one experiment while simultaneously analyzing other data on the same desktop by selecting an appropriate layout. The software provides various analysis tools such as automatic phase identification, quantitative analysis, crystallite-size analysis, lattice constants refinement, Rietveld analysis, ab initio structure determination, etc.

Powder XRD: phase identification with a variety of available databases

Peak position, FWHM, integrated intensity and crystallite size are calculated by profile fitting. Rigaku’s optional “Hybrid Search/Match” uses peak-base qualification, which detects heavily distorted lattices, to identify solid solution phases that are difficult to identify. It also can determine whether preferred orientation exists based on decomposed peak intensities.

Powder XRD: quantification package

This option supports internal standard, external standard, and standard addition calibration methods. Calibration curves are used to quantify specific phases in the sample.

Powder XRD: comprehensive analysis package

This optional package can provide analysis results such as crystalline size, lattice strain, lattice parameters refinement, % crystallinity based on fully automated profile fitting executed after loading measured data. Results obtained aid in understanding the relationship between structure and physical properties, and allow users to compare results across different samples.

Powder XRD: direct derivation analysis package

The direct derivation (DD) method was invented by Professor Hideo Toraya of Rigaku Corporation in 2016. It quantifies phases from all integrated diffraction intensities and the chemical formulas of each phase found. Compared to the classical RIR method, where a single integrated peak intensity and RIR number are used, the DD method is less affected by preferred orientation and peak overlap.

Powder XRD: Rietveld analysis package

The package performs phase identification followed by Whole Powder Pattern Fitting (WPPF). The Rietveld analysis refines crystal structure or quantifies the phases directly from measured data, requiring neither reference samples nor a calibration curve. The whole powder pattern decomposition (Pawley method) is based on both the measured peak positions, and peaks shapes.



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