Microdifracción

La microdifracción es un análisis de difracción de rayos X efectuado en muestras pequeñas o áreas pequeñas de muestras grandes. La microdifracción es considerada la técnica ideal cuando las muestras son demasiado pequeñas para los ópticos y la precisión de instrumentos de difracción convencionales. El micro-haz es usado como sonda de rayos X de tal manera que las características de difracción puedan se mapeadas como función de una muestra de posición. Con la habilidad de precisamente posicionar el haz de rayos X en la superficie de la muestra, la información puede ser representada en un Mapa de Función de Difracción (DFM, por sus siglas en inglés). Los datos de difracción pueden contener información sobre la identificación de algún compuesto, orientación cristalina (textura), estrés (tensión), cristalinidad, y tamaño del cristalito. El campo de microdifracción esta creciendo rápidamente en materiales investigación y manufacturado porque hasta los dominios pequeños afectan la confiabilidad y calidad de los productos. Las aplicaciones el análisis de microdifracción incluyen:Microdiffraction

  • Superficies de muestra para obleas estampadas
  • Bibliotecas de compuestos formadas por química combinatoria
  • Partículas pequeñas en especímenes geológicos
  • Análisis de falla de componentes metálicos o plásticos
  • Control de Calidad en ambientes para el manufacturado o fabricación en los cuales la uniformidad es de mayor importancia.

El limite del tamaño de la muestra depende de la precisión de los instrumentos, lo cual esta vinculado con variables como el diámetro el haz de rayos X de incidencia y la precisión del posicionamiento de la muestra. Si el área de la muestra de interés s parte de un material multi-fase, es necesario que el diámetro del haz de rayos X sea más pequeño que el área de la muestra para asegurar que el patrón de difracción producido sea únicamente del área de interés. Los Instrumentos y las técnicas desarrolladas recientemente pueden efectuar microdifracción de hasta 20 μm de diámetro. Los colimadores del haz de incidencia y una videocámara con magnificación alta son usados para precisa- y correctamente posicionar el área de la muestra de interés dentro del haz de rayos X. Un detector bi-dimensional (placa de visualización RAPID II) es usado para recopilar el cono de difracción muestras que reduce el número de ejes móviles y la incertidumbre asociada con ellos.


El D/MAX RAPID II es sin duda el rayos X detector de área más versátil en la historia del análisis de materiales. En producción por más de una década y mejorado continuamente durante ese período de tiempo, el éxito del RAPID II es una prueba de la idoneidad de la tecnología de placa de imagen para medir los patrones de difracción y dispersión difusa de una amplia gama de materiales. Read more...