Microdifracción de Rayos X de la estructura cristalina que forma un diente

Las medidas de difracción de Rayos X del esmalte y la dentina, los cuales son los tejidos principales de los dientes, indican que están hechos primariamente de hidroxiapatita. No es muy conocido que los tratamientos externos, tales como la irradiación con laser, pueden alterar la estructura de estos componentes. La microdifracción de Rayos X es útil para observar la influencia localizada de la irradiación con laser en el esmalte.

Se efectuaron medidas de microdifracción con haz de rayo X de ø100 μm en tres posiciones de una sección de esmalte (marcadas 1, 2, 3 en la imagen a continuación) usando el difractómetro D/MAX RAPID II. Las condiciones de la medida fueron: Rendimiento del generador de rayos X: 40 kV, 36mA; objetivo: Cu; tiempo de exposición: 300 seg.

Los patrones de difracción resultantes indican que los policristales de hidroxiapatita, el componente principal del esmalte, se hicieron amorfos – no solo en la superficie irradiada sino hasta por dentro del diente. El componente amorfo más notable (grande) en la superficie (3).

X-ray diffraction measurements of enamel and dentin
  • Izquierda: Esmalte de un diente que ha sido alterado debido a la irradiación con laser en tres puntos de medición marcados.
  • Centro: Datos de difracción de rayos x bi-dimensionales.
  • Derecha: Esquema del diente (ø100 μm cada uno en los puntos de medición 1, 2, y 3)

profiles converted from two-dimensional data
Perfiles 2ø-I convertidos de datos bi-dimensionales.

El Profesor Fumio Hirota de la Universidad Dental de Nippon suplió los datos de muestra

Referencia:
F. Hirota et.al., Lasers in Dentistry, Revolution of Dental Treatment in the New Millennium, (Elsevier Science B.V.) pp.301-311 (2003)


El D/MAX RAPID II es sin duda el rayos X detector de área más versátil en la historia del análisis de materiales. En producción por más de una década y mejorado continuamente durante ese período de tiempo, el éxito del RAPID II es una prueba de la idoneidad de la tecnología de placa de imagen para medir los patrones de difracción y dispersión difusa de una amplia gama de materiales. Read more...