Detector de área de placa de imagen curva

Medición de la difracción de rayos X y la dispersión de materiales

RAPID II

El RAPID II es sin duda el rayos X detector de área más versátil en la historia del análisis de materiales. En producción por más de una década y mejorado continuamente durante ese período de tiempo, el éxito del RAPID II es una prueba de la idoneidad de la tecnología de placa de imagen para medir los patrones de difracción y dispersión difusa de una amplia gama de materiales.

Diseñada para la versatilidad

Combina un área activa excepcionalmente grande de placa de imagen que es sensible a una amplia gama de fuentes de radiación con la flexibilidad para acoplarse con una gran variedad de ópticas y fuentes de rayos X. La naturaleza del detector de placa de imagen significa que las mediciones débiles se pueden hacer fácilmente en presencia de mediciones fuertes.
Bajo costo de propiedad
La combinación de diseño cuidadosamente probado, al cual se le ha realizado pruebas de tiempo, sin la necesidad de calibración; demuestran que el II RAPID es un detector que puede mantenerse en el campo con un mínimo de tiempo de inactividad.
La prueba está en los resultados
Los experimentos que se ejecutan en el RAPID II sólo están limitados por la imaginación del investigador. Los ejemplos incluyen, ID de fase de muestras de polvo, de microdifracción designando o mapeando hasta 10 micras, dispersión difusa, difracción de fibra, el análisis de estructura de pequeña molécula, tensión y las mediciones de textura, etc.
DMAX RAPID XRD
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Features

  • La placa de imagen curva proporciona una abertura grande de 210°
  • Permite exposiciones largas debido a la ausencia de ruido de corriente de oscuridad
  • Un amplio rango dinámico se logra con un diseño de doble fotomultiplicador
  • Alta sensibilidad, junto con un bajo ruido de lectura
  • Detector de imagen de placa sensible para todos los objetivos potenciales de rayos X
  • Múltiples opciones de fuentes de rayos X, desde tubo sellado a generadores de ánodo rotativo
  • No requiere de calibración del detector
  • De bajo mantenimiento-se le puede dar el servicio a todos los componentes dentro de las instalaciones
  • Una enorme versatilidad experimental, desde polvos a monocristales

PDXL es un software suite omnifuncional de análisis de difracción por polvo. El diseño modular, su motor avanzado y la GUI (interfaz gráfica de usuario) fácil de usar, han sido de la satisfacción de los usuarios experimentados y novatos desde el lanzamiento de PDXL en 2007.

PDXL ofrece diversas herramientas de análisis tales como la identificación automática de fase, el análisis cuantitativo, el análisis del tamaño de los cristalitos, red constante de refinamiento, análisis de Rietveld, determinación de la estructura ab initio, etc.

Método de parámetros fundamentales

La forma de pico en un patrón de difracción por polvo parece ser una función delta si se mide bajo condiciones ideales. En realidad, los cambios en la forma de pico se dan dependiendo de un número de condiciones de medición: distribución de longitud de onda de la fuente, los sistemas ópticos, las condiciones de hendidura, el tamaño de los cristalitos y la tensión, y así sucesivamente. Las formas de los picos obtenidos a partir de las mediciones realizadas en condiciones reales se describen utilizando una función empírica como una función de partición pseudo-Voigt, o una partición Pearson VII, la función que tiene un buen acuerdo con las formas de los picos obtenidos. El método parámetro fundamental (método PF) es un método para calcular la forma de pico por convolución de las formas causadas por todas las condiciones instrumentales y la muestra.

Fase de identificación usando COD

La Crystallography Open Database (COD) es una base de datos gratis y de dominio público de las estructuras cristalinas publicadas por la Unión Internacional de Cristalografía, la Sociedad Mineralógica de América y otras asociaciones. PDXL puede incorporar tanto ICDD/PDF-2 y COD para llevar a cabo la fase de identificación automática, adicionando la biblioteca DQO con más de 150,000 estructuras cristalinas a las ya capacidades substanciales de PDXL 2.
Asistente para el análisis de estructura cristalina ab initio
Recientemente, han habido muchos ejemplos publicados de análisis de estructura cristalina ab initio realizados en datos de difracción por polvo. Este desarrollo se atribuye principalmente a mejoras significativas en la velocidad del procesamiento de las PC y en la eficiencia de los algoritmos utilizados para la determinación de la estructura.

PDXL ha proporcionado hasta ahora todas las funciones requeridas para el análisis de estructura cristalina ab initio, tales como la determinación de la estructura de indexación, y el refinamiento de estructura por el método de Rietveld. Ahora, “el asistente para análisis de estructura” está disponible en PDXL para proporcionar apoyo y orientación a los usuarios que realizan el complicado procedimiento de análisis de estructura, en particular de los compuestos orgánicos. Este sistema asistente hace posible que incluso los principiantes puedan obtener éxitos de análisis.

Función de agrupamiento
La característica de agrupamiento PDXL puede agrupar los datos de varios análisis basados en similitud de los patrones de difracción por polvo y las posiciones de los picos, y muestra los datos agrupados en un árbol fácil de leer. Esto es particularmente efectivo cuando se trata de la clasificación y la detección de los datos de un gran número de exploraciones.

  • Análisis de búsqueda/coincidencia con PDF-2 y la base de datos Cristalografía Abierta (Open Cristalografía)
  • Análisis cuantitativo
  • Porcentaje (%) de cristalinidad
  • Tensión y tamaño del cristalito
  • Perfeccionamiento celular
  • Tensión residual
  • Indexación
  • Perfil completo de patrón de ajuste
  • La estructura de solución ab initio con asistente


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